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Auteur W. R. Runyan |
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The definitive reference on semiconductor characterization tools! Here, in one well-organized volume, are detailed explanations of the advanced and "traditional") techniques for evaluating virtually every criterion: crystal defects, impurity c[...]Exemplaires (2)
Cote Support Localisation Disponibilité S8/53893 Livre Bibliothèque centrale Disponible S8/53894 Livre Bibliothèque centrale Disponible
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