Surface analysis methods in materials science / O'CONNOR,D.J.

Public ISBD Titre : Surface analysis methods in materials science Type de document : texte imprimé Auteurs : O'CONNOR,D.J. ; SEXTON,B.A. Editeur : Berlin : Springer Année de publication : 2003 Collection : Surface sciences Importance : 1 vol. (585 p.) Format : 24 ISBN/ISSN/EAN : 978-3-540-41330-1 Note générale : Index,bibliogr. Catégories : Physique Mots-clés : Surfaces (physique) Matériaux : Analyse Surfaces (technologie) : Analyse Index. décimale : 620.44 Technologie des surfaces Résumé : Ce guide sur l'utilisation des techniques d'analyse de surface, maintenant dans sa deuxième édition, s'est développé pour inclure plus de techniques, des applications actuelles et des références mises à jour. Il décrit l'application des techniques d'analyse de surface à un large éventail d'études en sciences et en génie des matériaux. Le livre se compose de trois parties: une introduction approfondie, une section de techniques et une section sur les applications. Chaque chapitre a été écrit par des spécialistes dans le domaine. Ce livre s'adresse aux scientifiques industriels et aux ingénieurs de la R & D qui cherchent une description des techniques disponibles dans un style concis mais instructif. Il est précieux en tant que texte complet pour les scientifiques et les ingénieurs qui suivent des cours de formation et des ateliers. Le niveau et le contenu de ce livre le rendent idéal en tant que texte de cours pour les étudiants seniors et étudiants de premier cycle en sciences des matériaux, en génie des matériaux, en physique, en chimie et en métallurgie. Note de contenu : Contents Introduction Solid Surfaces, Their Structure and Composition UHV Basics Techniques Electron Microscope Techniques for Surface Characterization Sputter Depth Profiling SIMS Auger Electron Spectroscopy and Microscopy - Techniques and Applications X-Ray Photoelectron Spectroscopy Vibrational Spectroscopy of Surfaces Rutherford Backscattering Spectrometry and Nuclear Reaction Analysis Materials Characterization by Scanned Probe Analysis Low Energy Ion Scattering Reflection High Energy Electron Diffraction Low Energy Electron Diffraction Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy of Solids Processes and Applications Minerals, Ceramics and Glasses Characterization of Catalysts by Surface Analysis Application to Semiconductor Devices Characterization of Oxidised Surfaces Coated Steel Thin Films Analysis Identification of Adsorbed Species Surface Analysis of Polymers Glow Discharge Optical Emission Spectrometry Appendix Surface analysis methods in materials science [texte imprimé] / O'CONNOR,D.J. ; SEXTON,B.A. . - Berlin : Springer, 2003 . - 1 vol. (585 p.) ; 24. - (Surface sciences) . ISBN : 978-3-540-41330-1 Index,bibliogr. Catégories : Physique Mots-clés : Surfaces (physique) Matériaux : Analyse Surfaces (technologie) : Analyse Index. décimale : 620.44 Technologie des surfaces Résumé : Ce guide sur l'utilisation des techniques d'analyse de surface, maintenant dans sa deuxième édition, s'est développé pour inclure plus de techniques, des applications actuelles et des références mises à jour. Il décrit l'application des techniques d'analyse de surface à un large éventail d'études en sciences et en génie des matériaux. Le livre se compose de trois parties: une introduction approfondie, une section de techniques et une section sur les applications. Chaque chapitre a été écrit par des spécialistes dans le domaine. Ce livre s'adresse aux scientifiques industriels et aux ingénieurs de la R & D qui cherchent une description des techniques disponibles dans un style concis mais instructif. Il est précieux en tant que texte complet pour les scientifiques et les ingénieurs qui suivent des cours de formation et des ateliers. Le niveau et le contenu de ce livre le rendent idéal en tant que texte de cours pour les étudiants seniors et étudiants de premier cycle en sciences des matériaux, en génie des matériaux, en physique, en chimie et en métallurgie. Note de contenu : Contents Introduction Solid Surfaces, Their Structure and Composition UHV Basics Techniques Electron Microscope Techniques for Surface Characterization Sputter Depth Profiling SIMS Auger Electron Spectroscopy and Microscopy - Techniques and Applications X-Ray Photoelectron Spectroscopy Vibrational Spectroscopy of Surfaces Rutherford Backscattering Spectrometry and Nuclear Reaction Analysis Materials Characterization by Scanned Probe Analysis Low Energy Ion Scattering Reflection High Energy Electron Diffraction Low Energy Electron Diffraction Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy of Solids Processes and Applications Minerals, Ceramics and Glasses Characterization of Catalysts by Surface Analysis Application to Semiconductor Devices Characterization of Oxidised Surfaces Coated Steel Thin Films Analysis Identification of Adsorbed Species Surface Analysis of Polymers Glow Discharge Optical Emission Spectrometry Appendix

Exemplaires (2)

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
Fs/1597	Fs/1597-1598	Livre	Bibliothéque des sciences	Français	Disponible Disponible
Fs/1598	Fs/1597-1598	Livre	Bibliothéque des sciences	Français	Disponible Disponible

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