Dépôt et caractérisation des films de Nickel sur de silicium poreux / Lydia Mezari  

Public ISBD Titre : Dépôt et caractérisation des films de Nickel sur de silicium poreux Type de document : texte imprimé Auteurs : Lydia Mezari, Auteur ; Manel Souici, Auteur ; Salem Boudinar, Directeur de thèse Année de publication : 2022 Importance : 1 vol (41 f .) Format : 29cm Langues : Français (fre) Catégories : Thèses & Mémoires:Chimie Mots-clés : Silicium poreux Nickel Electrodéposition Propriétés optiques. Index. décimale : 540 Chimie et sciences connexes Résumé : Dans ce travail, les surfaces du silicium nanoporeux sont préparées par une simple attaque chimique à partir du silicium monocristallin de type n, d’orientation (111) , de résistivité 0.03-2 Ωcm et d’épaisseur voisine de 300 μm. Les caractéristiques morphologiques, optiques des échantillons sont analysées pour différentes conditions de préparation. Les résultats d’analyses, ont permis de mettre en évidence la formation d’une structure macrosporeuse de Si, avec une réflectivité inférieur à 10%. Les dépôts de Ni obtenus sur le silicium poreux ont une morphologie similaire, qui consiste en une très fine couche qui ne recouvre pas toute la surface de SiP. Les résultats de caractérisation optique des échantillons SiP/Ni indiquent une diminution significative de l’absorbance comparée à celle du silicium poreux Côte titre : MACH/0244 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1FC3HrNYiiUP2L7B9nTSozbzUzSfEAahq/view?usp=share [...] Format de la ressource électronique : pdf Dépôt et caractérisation des films de Nickel sur de silicium poreux [texte imprimé] / Lydia Mezari, Auteur ; Manel Souici, Auteur ; Salem Boudinar, Directeur de thèse . - 2022 . - 1 vol (41 f .) ; 29cm. Langues : Français (fre) Catégories : Thèses & Mémoires:Chimie Mots-clés : Silicium poreux Nickel Electrodéposition Propriétés optiques. Index. décimale : 540 Chimie et sciences connexes Résumé : Dans ce travail, les surfaces du silicium nanoporeux sont préparées par une simple attaque chimique à partir du silicium monocristallin de type n, d’orientation (111) , de résistivité 0.03-2 Ωcm et d’épaisseur voisine de 300 μm. Les caractéristiques morphologiques, optiques des échantillons sont analysées pour différentes conditions de préparation. Les résultats d’analyses, ont permis de mettre en évidence la formation d’une structure macrosporeuse de Si, avec une réflectivité inférieur à 10%. Les dépôts de Ni obtenus sur le silicium poreux ont une morphologie similaire, qui consiste en une très fine couche qui ne recouvre pas toute la surface de SiP. Les résultats de caractérisation optique des échantillons SiP/Ni indiquent une diminution significative de l’absorbance comparée à celle du silicium poreux Côte titre : MACH/0244 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1FC3HrNYiiUP2L7B9nTSozbzUzSfEAahq/view?usp=share [...] Format de la ressource électronique : pdf

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
MACH/0244	MACH/0244	Mémoire	Bibliothéque des sciences	Français	Disponible Disponible

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