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1 résultat(s) recherche sur le mot-clé 'Physique Métrologie dimensionnelle Mesure Tolérances dimensionnelle'
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Métrologie appliquée aux sciences et technologies V.1:Incertitudes et GPS / Ammar Grous
Titre : Métrologie appliquée aux sciences et technologies V.1:Incertitudes et GPS Type de document : texte imprimé Auteurs : Ammar Grous Editeur : Paris : Lavoisier Année de publication : 2009 Collection : Capteurs et instrumentation/Placko,Dominique Importance : 1 vol. (357 p.) Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-2294-6 Note générale : Annexe P.331-354,index p.355-357 Langues : Français (fre) Catégories : Physique Mots-clés : Physique
Métrologie dimensionnelle
Mesure
Tolérances dimensionnelleIndex. décimale : 530 Physique Résumé :
Métrologie appliquée aux sciences et technologies, en deux volumes, se démarque des ouvrages traditionnels par son aspect pédagogique. Illustré par des travaux dirigés et des modèles de laboratoires, il est accessible à des utilisateurs non spécialistes dans les domaines de la conception et de la fabrication. Les chapitres peuvent être consultés indépendamment les uns des autres. Cet ouvrage fait une grande place aux techniques de tolérances géométriques et dimensionnelles ainsi qu'aux essais mécaniques et au contrôle de qualité. Il propose également des références et exemples résolus aidant ainsi les professionnels et les enseignants à adapter les modèles à leurs cas spécifiques. Il rend compte des développements récents sur les normes (ISO et GPS) et met l'accent sur la formation qui va de paire avec la progression des travaux pratiques et des ateliers traitant de la mesure et du dimensionnement. [Source : 4e de couverture]Côte titre : Fs/7921-7922 Métrologie appliquée aux sciences et technologies V.1:Incertitudes et GPS [texte imprimé] / Ammar Grous . - Paris : Lavoisier, 2009 . - 1 vol. (357 p.) : ill. ; 24 cm. - (Capteurs et instrumentation/Placko,Dominique) .
ISBN : 978-2-7462-2294-6
Annexe P.331-354,index p.355-357
Langues : Français (fre)
Catégories : Physique Mots-clés : Physique
Métrologie dimensionnelle
Mesure
Tolérances dimensionnelleIndex. décimale : 530 Physique Résumé :
Métrologie appliquée aux sciences et technologies, en deux volumes, se démarque des ouvrages traditionnels par son aspect pédagogique. Illustré par des travaux dirigés et des modèles de laboratoires, il est accessible à des utilisateurs non spécialistes dans les domaines de la conception et de la fabrication. Les chapitres peuvent être consultés indépendamment les uns des autres. Cet ouvrage fait une grande place aux techniques de tolérances géométriques et dimensionnelles ainsi qu'aux essais mécaniques et au contrôle de qualité. Il propose également des références et exemples résolus aidant ainsi les professionnels et les enseignants à adapter les modèles à leurs cas spécifiques. Il rend compte des développements récents sur les normes (ISO et GPS) et met l'accent sur la formation qui va de paire avec la progression des travaux pratiques et des ateliers traitant de la mesure et du dimensionnement. [Source : 4e de couverture]Côte titre : Fs/7921-7922 Exemplaires (2)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Fs/7921 Fs/7921-7922 livre Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleFs/7922 Fs/7921-7922 livre Bibliothéque des sciences Français Disponible
Disponible