Caractérisation microstructurale des matériaux / Claude Esnouf

Public ISBD Titre : Caractérisation microstructurale des matériaux : Analyse par les rayonnements X et électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Claude Esnouf, Auteur Editeur : Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes Année de publication : cop. 2011 Collection : Metis LyonTech Importance : 1 vol. (XVI-579 p.) Présentation : ill., couv. ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-884-5 Note générale : Notes bibliogr. Index Diff. en France Langues : Français Catégories : Mécanique de précision : Matériaux Index. décimale : 620.11 Matériaux (propriétés, résistance) Résumé : Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique.Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine,les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline,depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique.Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus,ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur,de Master,ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine. Caractérisation microstructurale des matériaux : Analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes, cop. 2011 . - 1 vol. (XVI-579 p.) : ill., couv. ill. ; 24 cm. - (Metis LyonTech) . ISBN : 978-2-88074-884-5 Notes bibliogr. Index Diff. en France Langues : Français Catégories : Mécanique de précision : Matériaux Index. décimale : 620.11 Matériaux (propriétés, résistance) Résumé : Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique.Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine,les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline,depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique.Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus,ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur,de Master,ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.

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Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
IOMP/2361	620.1 ESN/75	Livre	Bibliothèque IOMP	620 Ingénierie (art de l'ingénieur et activités connexes)	Disponible
IOMP/1957	620.11 ESN	Livre	Bibliothèque IOMP	620 Ingénierie (art de l'ingénieur et activités connexes)	Disponible
IOMP/1958	620.11 ESN	Livre	Bibliothèque IOMP	620 Ingénierie (art de l'ingénieur et activités connexes)	Disponible
IOMP/1959	620.11 ESN	Livre	Bibliothèque IOMP	620 Ingénierie (art de l'ingénieur et activités connexes)	Disponible
IOMP/1960	620.11 ESN	Livre	Bibliothèque IOMP	620 Ingénierie (art de l'ingénieur et activités connexes)	Disponible
IOMP/1961	620.11 ESN	Livre	Bibliothèque IOMP	620 Ingénierie (art de l'ingénieur et activités connexes)	Disponible

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