Titre :	Caractérisation microstructurale des matériaux : Analyse par les rayonnements X et électronique
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	Claude Esnouf, Auteur
Editeur :	Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes
Année de publication :	cop. 2011
Collection :	Metis LyonTech
Importance :	1 vol. (XVI-579 p.)
Présentation :	ill., couv. ill.
Format :	24 cm
ISBN/ISSN/EAN :	978-2-88074-884-5
Note générale :	Notes bibliogr. Index Diff. en France
Langues :	Français
Catégories :	Mécanique de précision : Matériaux
Index. décimale :	620.11 Matériaux (propriétés, résistance)
Résumé :	Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique.Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine,les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline,depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique.Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus,ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur,de Master,ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.

Caractérisation microstructurale des matériaux : Analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes, cop. 2011 . - 1 vol. (XVI-579 p.) : ill., couv. ill. ; 24 cm. - (Metis LyonTech) .
ISBN : 978-2-88074-884-5
Notes bibliogr. Index
Diff. en France
Langues : Français

Catégories :	Mécanique de précision : Matériaux
Index. décimale :	620.11 Matériaux (propriétés, résistance)
Résumé :	Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique.Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine,les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline,depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique.Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus,ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur,de Master,ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.