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Auteur Seizo Morita |
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Noncontact atomic force microscopy / Seizo Morita
Titre : Noncontact atomic force microscopy Type de document : texte imprimé Auteurs : Seizo Morita ; WIESENDANGER,R. Editeur : Berlin : Springer Année de publication : 2002 Collection : Nanosciences and technology Importance : 1 vol (439 p.) Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-3-540-43117-6 Note générale : Index Catégories : Physique Mots-clés : Physique
Microscopie à force atomique: sans contact
Force atomiqueIndex. décimale : 539 physique de la matière ; physique atomique, moléculaire, nucléaire, quantique Résumé :
Depuis 1995, le microscope à force atomique sans contact (NC-AFM) a réalisé des progrès remarquables. Basé sur des méthodes nanomécaniques, le NC-AFM détecte la faible force d'attraction entre la pointe d'un porte-à -faux et une surface d'échantillon. Cette méthode a les caractéristiques suivantes: elle a une vraie résolution atomique; il peut mesurer des interactions de force atomique, c'est-à -dire il peut être utilisé dans ce qu'on appelle la spectroscopie à force atomique (AFS); il peut également être utilisé pour étudier les isolants; et il peut mesurer des réponses mécaniques telles que la déformation élastique. C'est le premier livre qui traite de tous les problèmes émergents de NC-AFM.
Note de contenu :
Table of contents (20 chapters)
Introduction
Morita, Seizo
Pages 1-10
Preview Buy Chapter $29.95
Principle of NC-AFM
Giessibl, Franz J.
Pages 11-46
Semiconductor Surfaces
Morita, Seizo (et al.)
Pages 47-77
Bias Dependence of NC-AFM Images and Tunneling Current Variations on Semiconductor Surfaces
Arai, Toyoko (et al.)
Pages 79-92
Alkali Halides
Bennewitz, Roland (et al.)
Pages 93-107
Atomic Resolution Imaging on Fluorides
Reichling, Michael (et al.)
Pages 109-123
Atomically Resolved Imaging of a NiO(001) Surface
Hosoi, Hirotaka (et al.)
Pages 125-134
Atomic Structure, Order and Disorder on High Temperature Reconstructed α-Al2O3(0001)
Barth, Clemens (et al.)
Pages 135-145
NC-AFM Imaging of Surface Reconstructions and Metal Growth on Oxides
Pang, Chi Lun (et al.)
Pages 147-165
Atoms and Molecules on TiO2(110) and CeO2(111) Surfaces
Fukui, Ken-ichi (et al.)
Pages 167-181
NC-AFM Imaging of Adsorbed Molecules
Sugawara, Yasuhiro
Pages 183-192
Organic Molecular Films
Yamada, Hirofumi
Pages 193-213
Single-Molecule Analysis
Sasahara, Akira (et al.)
Pages 215-231
Low-Temperature Measurements: Principles, Instrumentation, and Application
Allers, Wolf (et al.)
Pages 233-256
Theory of Non-Contact Atomic Force Microscopy
Tsukada, Masaru (et al.)
Pages 257-278
Chemical Interaction in NC-AFM on Semiconductor Surfaces
Ke, San-Huang (et al.)
Pages 279-304
Contrast Mechanisms on Insulating Surfaces
Foster, Adam (et al.)
Pages 305-347
Analysis of Microscopy and Spectroscopy Experiments
Hölscher, Hendrik
Pages 349-369
Theory of Energy Dissipation into Surface Vibrations
Gauthier, Michel (et al.)
Pages 371-394
Measurement of Dissipation Induced by Tip-Sample Interactions
Hug, H. J. (et al.)
Pages 395-431Côte titre : Fs/2292-2293 Noncontact atomic force microscopy [texte imprimé] / Seizo Morita ; WIESENDANGER,R. . - Berlin : Springer, 2002 . - 1 vol (439 p.) ; 24 cm. - (Nanosciences and technology) .
ISBN : 978-3-540-43117-6
Index
Catégories : Physique Mots-clés : Physique
Microscopie à force atomique: sans contact
Force atomiqueIndex. décimale : 539 physique de la matière ; physique atomique, moléculaire, nucléaire, quantique Résumé :
Depuis 1995, le microscope à force atomique sans contact (NC-AFM) a réalisé des progrès remarquables. Basé sur des méthodes nanomécaniques, le NC-AFM détecte la faible force d'attraction entre la pointe d'un porte-à -faux et une surface d'échantillon. Cette méthode a les caractéristiques suivantes: elle a une vraie résolution atomique; il peut mesurer des interactions de force atomique, c'est-à -dire il peut être utilisé dans ce qu'on appelle la spectroscopie à force atomique (AFS); il peut également être utilisé pour étudier les isolants; et il peut mesurer des réponses mécaniques telles que la déformation élastique. C'est le premier livre qui traite de tous les problèmes émergents de NC-AFM.
Note de contenu :
Table of contents (20 chapters)
Introduction
Morita, Seizo
Pages 1-10
Preview Buy Chapter $29.95
Principle of NC-AFM
Giessibl, Franz J.
Pages 11-46
Semiconductor Surfaces
Morita, Seizo (et al.)
Pages 47-77
Bias Dependence of NC-AFM Images and Tunneling Current Variations on Semiconductor Surfaces
Arai, Toyoko (et al.)
Pages 79-92
Alkali Halides
Bennewitz, Roland (et al.)
Pages 93-107
Atomic Resolution Imaging on Fluorides
Reichling, Michael (et al.)
Pages 109-123
Atomically Resolved Imaging of a NiO(001) Surface
Hosoi, Hirotaka (et al.)
Pages 125-134
Atomic Structure, Order and Disorder on High Temperature Reconstructed α-Al2O3(0001)
Barth, Clemens (et al.)
Pages 135-145
NC-AFM Imaging of Surface Reconstructions and Metal Growth on Oxides
Pang, Chi Lun (et al.)
Pages 147-165
Atoms and Molecules on TiO2(110) and CeO2(111) Surfaces
Fukui, Ken-ichi (et al.)
Pages 167-181
NC-AFM Imaging of Adsorbed Molecules
Sugawara, Yasuhiro
Pages 183-192
Organic Molecular Films
Yamada, Hirofumi
Pages 193-213
Single-Molecule Analysis
Sasahara, Akira (et al.)
Pages 215-231
Low-Temperature Measurements: Principles, Instrumentation, and Application
Allers, Wolf (et al.)
Pages 233-256
Theory of Non-Contact Atomic Force Microscopy
Tsukada, Masaru (et al.)
Pages 257-278
Chemical Interaction in NC-AFM on Semiconductor Surfaces
Ke, San-Huang (et al.)
Pages 279-304
Contrast Mechanisms on Insulating Surfaces
Foster, Adam (et al.)
Pages 305-347
Analysis of Microscopy and Spectroscopy Experiments
Hölscher, Hendrik
Pages 349-369
Theory of Energy Dissipation into Surface Vibrations
Gauthier, Michel (et al.)
Pages 371-394
Measurement of Dissipation Induced by Tip-Sample Interactions
Hug, H. J. (et al.)
Pages 395-431Côte titre : Fs/2292-2293 Exemplaires (2)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Fs/2292 Fs/2292-2293 Livre Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleFs/2293 Fs/2292-2293 Livre Bibliothéque des sciences Français Disponible
Disponible