Titre :	Etude des propriétés physiques des couches minces AlMg
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	Karkour,Selma, Auteur ; T. CHIHI, Directeur de thèse
Editeur :	Setif:UFA
Année de publication :	2018
Importance :	1 vol (40. f)
Format :	29 cm
Langues :	Français (fre)
Catégories :	Thèses & Mémoires:Physique
Mots-clés :	Physique: Elaboration et Caractérisations propriétés physiques des couches minces AlMg
Index. décimale :	530 Physique
Résumé :	Dans le cadre de notre stage de fin d’étude, on s’intéressé aux propriétés structurales, morphologiques et électriques des films minces d'AlMg et l’impact des conditions élaboration sur leur qualité. A cet effet, couches minces du AlMg de différentes teneur de Mg ont été déposées par évaporation sous vide sur un substrat de silicium monocristallin dans l’évaporateur MECA2000. Les propriétés ont été étudiées par la technique de diffraction des rayons X(DRX), XRF, du profilometrie optique et mécanique et la méthode des quatre pointes. L’interprétation des spectres de diffraction des rayons X nous a permis entre autre d’affirmer que les films sont poly-cristallins avec des phases β et ɣ. Généralement, le paramètre de maille des échantillons AlMg s’est avéré légèrement élevée par rapport à celui en massif (amassif). Il en découle que nos échantillons témoignent une augmentation générale de la taille des grains quand l’épaisseur augmente. Des observations avec la profolimotrie optique : nous avons établi que la surface est d’apparence dense avec présence de nombreux grains. Les résultats de mesure de la rugosité montrent des valeurs qui augmentent avec l'augmentation de l'épaisseur dont le maximum se situe à 190 nm correspondant à une épaisseur de 454 nm. Quant aux mesures électriques, elles font état d’une résistivité maximale de 3,6.10-3Ω.cm.
Note de contenu :	Sommaire Introduction générale ............................................................................................. 1 Chapitre I : Généralités I. Généralités: Aluminium, caractéristiques et rôle des éléments d’addition ....... 3 І1. Propriétés de l’aluminium et du Magnésium ................................................. 3 APropriétés de l’aluminium ............................................................................................... 3 • Propriétés physiques ................................................................................................ 3 • Résistance à la corrosion .......................................................................................... 4 B) Propriétés du Magnésium ................................................................................................ 4 C) Le Silicium ..................................................................................................................... І.1.2 Types d’alliages d’aluminium ................................................................... 5 І.1.3. Système binaire AlMg série (5000) .......................................................... 6 І.1.3.1 Diagramme d’équilibre des phases du système binaire Al-Mg ................................. 6 І.1.4 Propriétés d’AlMg .................................................................................... 7 І.1.4.1 propriétés structural d’AlMg ..................................................................................... 7 І.1.4.2 Les propriétés d’AlMg et leurs nombreuses utilisations ........................................... 8 І.2 Synthèse d’AlMg en couches minces .............................................................. 8 І.2.1 Processus chimique ........................................................................................................ 9 І.2.1.1 Le dépôt chimique en phase liquide .......................................................................... І.2.1.2 Le dépit chimique en phase gazeuse ......................................................................... І.2.2 Processus physique ......................................................................................................... 9 І.2.2.1 Le processus thermique ............................................................................................. 9 І.2.2.1.1 l’Evaporation ..................................................................................................... 9 • Pourquoi travailler sous vide? ................................................................................... Références bibliographiques ............................................................................... 14 Chapitre II : Elaboration et Caractérisations II.1. Processus d’elaboration des échantillons………..………..……………………………..16 II.1.1 Préparation des substrats ............................................................................................ 16 IІ.1.2 Réalisation de dépôt .................................................................................................... 16 II.1.3 Recuit thermique de nos couches minces : ................................................................. 17 IІ.2. Techniques de caractérisation ...................................................................... 18 IІ.2.1. Spectrométrie de fluorescence X ............................................................................... 18 IІ.2.2. Diffraction des Rayons X (DRX) .............................................................................. IІ.2.3. Profilomètre mécanique ............................................................................................ 21 IІ.2.4. Le Profilomètre optique ............................................................................................. 22 IІ.2.4. La méthode des 4 pointe ............................................................................................ 23 Références bibliographiques ............................................................................... 25 Chapitre III : Résultats et discussions ІІІ.1 Analyse quantitative de Magnésium dans l’Aluminium ............................. 26 ІІІ.1.1 Caractérisation par la spectrométrie de fluorescence X ........................................... 26 ІІІ.2. Profilométre mécanique ............................................................................. 27 ІІІ.2.1 Mesure des épaisseurs ............................................................................................... 27 III.3 Caractérisation structurale par diffraction des rayons X(DRX) ................. 29 III.3.1 Structure cristalline .................................................................................................... 29 III.3.2 Paramètre de maille .................................................................................................. 34 III.3.3 Taille des gains ......................................................................................................... 35 III.3.3 Microdéformation (Stress) ........................................................................................ 36 III.4 Profilométre optique .................................................................................... 37 ІІІ.4.2 Les reliefs des filmes ................................................................................................. 37 ІІІ.4.2 La rugosité ................................................................................................................. 38 III.5 Caractérisations électrique ......................................................................... 39 Conclusion générale ............................................................................................ 4 ................................................................
Côte titre :	MAPH/0272
En ligne :	https://drive.google.com/file/d/1sFmkx5XObAXcor2I7XoEfw-fSufrAgMP/view?usp=shari [...]
Format de la ressource électronique :	pdf

Etude des propriétés physiques des couches minces AlMg [texte imprimé] / Karkour,Selma, Auteur ; T. CHIHI, Directeur de thèse . - [S.l.] : Setif:UFA, 2018 . - 1 vol (40. f) ; 29 cm.
Langues : Français (fre)

Catégories :	Thèses & Mémoires:Physique
Mots-clés :	Physique: Elaboration et Caractérisations propriétés physiques des couches minces AlMg
Index. décimale :	530 Physique
Résumé :	Dans le cadre de notre stage de fin d’étude, on s’intéressé aux propriétés structurales, morphologiques et électriques des films minces d'AlMg et l’impact des conditions élaboration sur leur qualité. A cet effet, couches minces du AlMg de différentes teneur de Mg ont été déposées par évaporation sous vide sur un substrat de silicium monocristallin dans l’évaporateur MECA2000. Les propriétés ont été étudiées par la technique de diffraction des rayons X(DRX), XRF, du profilometrie optique et mécanique et la méthode des quatre pointes. L’interprétation des spectres de diffraction des rayons X nous a permis entre autre d’affirmer que les films sont poly-cristallins avec des phases β et ɣ. Généralement, le paramètre de maille des échantillons AlMg s’est avéré légèrement élevée par rapport à celui en massif (amassif). Il en découle que nos échantillons témoignent une augmentation générale de la taille des grains quand l’épaisseur augmente. Des observations avec la profolimotrie optique : nous avons établi que la surface est d’apparence dense avec présence de nombreux grains. Les résultats de mesure de la rugosité montrent des valeurs qui augmentent avec l'augmentation de l'épaisseur dont le maximum se situe à 190 nm correspondant à une épaisseur de 454 nm. Quant aux mesures électriques, elles font état d’une résistivité maximale de 3,6.10-3Ω.cm.
Note de contenu :	Sommaire Introduction générale ............................................................................................. 1 Chapitre I : Généralités I. Généralités: Aluminium, caractéristiques et rôle des éléments d’addition ....... 3 І1. Propriétés de l’aluminium et du Magnésium ................................................. 3 APropriétés de l’aluminium ............................................................................................... 3 • Propriétés physiques ................................................................................................ 3 • Résistance à la corrosion .......................................................................................... 4 B) Propriétés du Magnésium ................................................................................................ 4 C) Le Silicium ..................................................................................................................... І.1.2 Types d’alliages d’aluminium ................................................................... 5 І.1.3. Système binaire AlMg série (5000) .......................................................... 6 І.1.3.1 Diagramme d’équilibre des phases du système binaire Al-Mg ................................. 6 І.1.4 Propriétés d’AlMg .................................................................................... 7 І.1.4.1 propriétés structural d’AlMg ..................................................................................... 7 І.1.4.2 Les propriétés d’AlMg et leurs nombreuses utilisations ........................................... 8 І.2 Synthèse d’AlMg en couches minces .............................................................. 8 І.2.1 Processus chimique ........................................................................................................ 9 І.2.1.1 Le dépôt chimique en phase liquide .......................................................................... І.2.1.2 Le dépit chimique en phase gazeuse ......................................................................... І.2.2 Processus physique ......................................................................................................... 9 І.2.2.1 Le processus thermique ............................................................................................. 9 І.2.2.1.1 l’Evaporation ..................................................................................................... 9 • Pourquoi travailler sous vide? ................................................................................... Références bibliographiques ............................................................................... 14 Chapitre II : Elaboration et Caractérisations II.1. Processus d’elaboration des échantillons………..………..……………………………..16 II.1.1 Préparation des substrats ............................................................................................ 16 IІ.1.2 Réalisation de dépôt .................................................................................................... 16 II.1.3 Recuit thermique de nos couches minces : ................................................................. 17 IІ.2. Techniques de caractérisation ...................................................................... 18 IІ.2.1. Spectrométrie de fluorescence X ............................................................................... 18 IІ.2.2. Diffraction des Rayons X (DRX) .............................................................................. IІ.2.3. Profilomètre mécanique ............................................................................................ 21 IІ.2.4. Le Profilomètre optique ............................................................................................. 22 IІ.2.4. La méthode des 4 pointe ............................................................................................ 23 Références bibliographiques ............................................................................... 25 Chapitre III : Résultats et discussions ІІІ.1 Analyse quantitative de Magnésium dans l’Aluminium ............................. 26 ІІІ.1.1 Caractérisation par la spectrométrie de fluorescence X ........................................... 26 ІІІ.2. Profilométre mécanique ............................................................................. 27 ІІІ.2.1 Mesure des épaisseurs ............................................................................................... 27 III.3 Caractérisation structurale par diffraction des rayons X(DRX) ................. 29 III.3.1 Structure cristalline .................................................................................................... 29 III.3.2 Paramètre de maille .................................................................................................. 34 III.3.3 Taille des gains ......................................................................................................... 35 III.3.3 Microdéformation (Stress) ........................................................................................ 36 III.4 Profilométre optique .................................................................................... 37 ІІІ.4.2 Les reliefs des filmes ................................................................................................. 37 ІІІ.4.2 La rugosité ................................................................................................................. 38 III.5 Caractérisations électrique ......................................................................... 39 Conclusion générale ............................................................................................ 4 ................................................................
Côte titre :	MAPH/0272
En ligne :	https://drive.google.com/file/d/1sFmkx5XObAXcor2I7XoEfw-fSufrAgMP/view?usp=shari [...]
Format de la ressource électronique :	pdf