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Auteur Yacine Kouhlane |
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Effet d’un recuit RTP sur la dégradation des propriétés électriques sous éclairement (LID)des couche barrière de nitrure de silicium SiNX / Warda Hetatache
Titre : Effet d’un recuit RTP sur la dégradation des propriétés électriques sous éclairement (LID)des couche barrière de nitrure de silicium SiNX Type de document : texte imprimé Auteurs : Warda Hetatache ; Yacine Kouhlane, Directeur de thèse Editeur : Setif:UFA Année de publication : 2015/2016 Importance : 1 vol (40f.) Mots-clés : Ingénierie des Matériaux Côte titre : MAPH/0155 Effet d’un recuit RTP sur la dégradation des propriétés électriques sous éclairement (LID)des couche barrière de nitrure de silicium SiNX [texte imprimé] / Warda Hetatache ; Yacine Kouhlane, Directeur de thèse . - [S.l.] : Setif:UFA, 2015/2016 . - 1 vol (40f.).
Mots-clés : Ingénierie des Matériaux Côte titre : MAPH/0155 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité MAPH/0155 MAPH/0155 Mémoire Bibliothéque des sciences Français Disponible
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