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| Titre : |
Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins : Instrumentation et étude de la microstructure |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Guinebretière, René, Auteur |
| Mention d'édition : |
2e éd. revue et augmentée |
| Editeur : |
Paris : Hermès science publications-Lavoisier |
| Année de publication : |
2006 |
| Importance : |
1 vol. (361 p.) |
| Présentation : |
ill. |
| Format : |
24 cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-2-7462-1238-1 |
| Note générale : |
978-2-7462-1238-1 |
| Langues : |
Français (fre) |
| Catégories : |
Chimie
Physique
|
| Mots-clés : |
Cristallographie physique
rayons X : Echantillons polycristallins
Microstructure |
| Index. décimale : |
548.8 - Cristallographie physique et structurale (ouvrages généraux sur les propriétés physiques des cristaux) |
| Résumé : |
Cet ouvrage est la deuxième édition d'une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de la plupart de ses applications en science des matériaux. Après une introduction historique décrivant les étapes de la découverte de la diffraction des rayons X depuis la découverte des rayons X eux-mêmes, l'ouvrage présente, dans sa première partie, la théorie cinématique de la diffraction des rayons X, les instruments de mesure utilisés en diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins, puis les méthodes modernes de traitement des diagrammes réalisés, et enfin, les principales applications conventionnelles de la diffraction sur échantillons polycristallins.
Dans sa deuxième partie, ce livre traite de l'étude quantitative par diffraction des rayons X de la microstructure des matériaux nanostructurés. Il analyse les fondements théoriques de ce type d'étude, la caractérisation des matériaux polycristallins d'orientation aléatoire et enfin, l'étude des couches minces épitaxiées. |
| Note de contenu : |
Sommaire
ELEMENTS THEORIQUES DE BASE, INSTRUMENTATION ET EXPLOITATION USUELLE DES REULTATS
Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X
Instrumentations en diffraction des rayons X
Traitements des données, extraction de l'information
Exploitation des résultats
ANALYSE MICROSTRUCTURALE
Diffusion et diffraction par des cristaux contenant des défauts
Etude microstructurale d'échantillons polycristallins d'orientation aléatoire
Etude microstructurale de couches minces |
| Côte titre : |
Fs/12178-12181,Fs/12651,Fs/2297-2303 |
Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins : Instrumentation et étude de la microstructure [texte imprimé] / Guinebretière, René, Auteur . - 2e éd. revue et augmentée . - Paris : Hermès science publications-Lavoisier, 2006 . - 1 vol. (361 p.) : ill. ; 24 cm. ISBN : 978-2-7462-1238-1 978-2-7462-1238-1 Langues : Français ( fre)
| Catégories : |
Chimie
Physique
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| Mots-clés : |
Cristallographie physique
rayons X : Echantillons polycristallins
Microstructure |
| Index. décimale : |
548.8 - Cristallographie physique et structurale (ouvrages généraux sur les propriétés physiques des cristaux) |
| Résumé : |
Cet ouvrage est la deuxième édition d'une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de la plupart de ses applications en science des matériaux. Après une introduction historique décrivant les étapes de la découverte de la diffraction des rayons X depuis la découverte des rayons X eux-mêmes, l'ouvrage présente, dans sa première partie, la théorie cinématique de la diffraction des rayons X, les instruments de mesure utilisés en diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins, puis les méthodes modernes de traitement des diagrammes réalisés, et enfin, les principales applications conventionnelles de la diffraction sur échantillons polycristallins.
Dans sa deuxième partie, ce livre traite de l'étude quantitative par diffraction des rayons X de la microstructure des matériaux nanostructurés. Il analyse les fondements théoriques de ce type d'étude, la caractérisation des matériaux polycristallins d'orientation aléatoire et enfin, l'étude des couches minces épitaxiées. |
| Note de contenu : |
Sommaire
ELEMENTS THEORIQUES DE BASE, INSTRUMENTATION ET EXPLOITATION USUELLE DES REULTATS
Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X
Instrumentations en diffraction des rayons X
Traitements des données, extraction de l'information
Exploitation des résultats
ANALYSE MICROSTRUCTURALE
Diffusion et diffraction par des cristaux contenant des défauts
Etude microstructurale d'échantillons polycristallins d'orientation aléatoire
Etude microstructurale de couches minces |
| Côte titre : |
Fs/12178-12181,Fs/12651,Fs/2297-2303 |
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