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Etude des propriétés structurales microstructurales et magnétiques des nanoparticules Fe Ni / Abderahim Guittoum
Titre : Etude des propriétés structurales microstructurales et magnétiques des nanoparticules Fe Ni Type de document : texte imprimé Auteurs : Abderahim Guittoum ; Abdelhamid Layadi, Directeur de thèse Editeur : Setif:UFA Année de publication : 2008 Importance : 1 vol (144 f .) Format : 29 cm Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : Alliage FeNi
Poudres nanostructurées
Diffraction X
Microscopie
Effet Mössbauer
Mesures magnétiquesIndex. décimale : 530 Physique Résumé :
Des poudres nanocristallines de Fe50Ni50 et Fe80Ni20 ont été élaborés par mécanosynthèse à l’aide d’un broyeur planétaire à haute énergie. La formation des composés ainsi que les propriétés physiques ont été étudiées en fonction du temps de broyage, t, (dans l’intervalle 0 jusqu’à 50 h) en utilisant les techniques de Diffraction des rayons X (DRX), Microscopie Electronique à Balayage (MEB), analyse de rayons X par Dispersion d’Energie (EDX), Spectroscopie Mössbauer et Magnétomètre à Echantillon Vibrant (VSM). La formation complète des phases -FeNi (cfc) et -FeNi (cc) a été observée après un temps de broyage de 24 h et 8 h pour les alliages Fe50Ni50 et Fe80Ni20 respectivement. Lorsque la durée de broyage augmente, le paramètre de maille augmente vers les valeurs du massif correspondantes aux deux composés alors que la taille des grains diminue jusqu’à 13 nm et 11 nm pour Fe50Ni50 et Fe80Ni20 respectivement. La morphologie des poudres pour les différents stades de formation des alliages a été observée par MEB. Les expériences de cartographie des éléments Ni et Fe faites par EDX ont confirmé les résultats de la diffraction des rayons X pour ce qui est l’évolution de la formation des deux composés. L’interprétation des spectres Mössbauer, a confirmé les résultats trouvés par XRD et EDX. Aussi, la présence de la phase paramagnétique (cfc) riche en fer et les joints de grains a été mise en évidence pour les composés Fe50Ni50 et Fe80Ni20 respectivement. Pour les deux alliages, l’aimantation à saturation et le champ coercitif déterminés à partir des cycles d’hystérésis ont été discutés en fonction de la durée de broyage. Finalement, l’alliage Ni80Fe20 (Permalloy) a été étudié en couche mince préparée par ablation laser pulsé (PLD); les propriétés structurales et électriques ont été étudiées en fonction de l’épaisseur.Côte titre : DPH/0102 En ligne : http://dspace.univ-setif.dz:8888/jspui/handle/123456789/1749 Etude des propriétés structurales microstructurales et magnétiques des nanoparticules Fe Ni [texte imprimé] / Abderahim Guittoum ; Abdelhamid Layadi, Directeur de thèse . - [S.l.] : Setif:UFA, 2008 . - 1 vol (144 f .) ; 29 cm.
Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : Alliage FeNi
Poudres nanostructurées
Diffraction X
Microscopie
Effet Mössbauer
Mesures magnétiquesIndex. décimale : 530 Physique Résumé :
Des poudres nanocristallines de Fe50Ni50 et Fe80Ni20 ont été élaborés par mécanosynthèse à l’aide d’un broyeur planétaire à haute énergie. La formation des composés ainsi que les propriétés physiques ont été étudiées en fonction du temps de broyage, t, (dans l’intervalle 0 jusqu’à 50 h) en utilisant les techniques de Diffraction des rayons X (DRX), Microscopie Electronique à Balayage (MEB), analyse de rayons X par Dispersion d’Energie (EDX), Spectroscopie Mössbauer et Magnétomètre à Echantillon Vibrant (VSM). La formation complète des phases -FeNi (cfc) et -FeNi (cc) a été observée après un temps de broyage de 24 h et 8 h pour les alliages Fe50Ni50 et Fe80Ni20 respectivement. Lorsque la durée de broyage augmente, le paramètre de maille augmente vers les valeurs du massif correspondantes aux deux composés alors que la taille des grains diminue jusqu’à 13 nm et 11 nm pour Fe50Ni50 et Fe80Ni20 respectivement. La morphologie des poudres pour les différents stades de formation des alliages a été observée par MEB. Les expériences de cartographie des éléments Ni et Fe faites par EDX ont confirmé les résultats de la diffraction des rayons X pour ce qui est l’évolution de la formation des deux composés. L’interprétation des spectres Mössbauer, a confirmé les résultats trouvés par XRD et EDX. Aussi, la présence de la phase paramagnétique (cfc) riche en fer et les joints de grains a été mise en évidence pour les composés Fe50Ni50 et Fe80Ni20 respectivement. Pour les deux alliages, l’aimantation à saturation et le champ coercitif déterminés à partir des cycles d’hystérésis ont été discutés en fonction de la durée de broyage. Finalement, l’alliage Ni80Fe20 (Permalloy) a été étudié en couche mince préparée par ablation laser pulsé (PLD); les propriétés structurales et électriques ont été étudiées en fonction de l’épaisseur.Côte titre : DPH/0102 En ligne : http://dspace.univ-setif.dz:8888/jspui/handle/123456789/1749 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité DPH/0102 DPH/0102 Thèse Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleEtude des propriétés structurelles, électriques et magnétiques des couches minces Ni/Co/Si élaborées par évaporation à effet joule / Talbi, Imane
Titre : Etude des propriétés structurelles, électriques et magnétiques des couches minces Ni/Co/Si élaborées par évaporation à effet joule Type de document : texte imprimé Auteurs : Talbi, Imane, Auteur ; Reffas , mounir, Directeur de thèse Editeur : Setif:UFA Année de publication : 2018 Importance : 1 vol (45 f .) Format : 29 cm Langues : Français (fre) Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : Couches minces
Nickel
Cobalt
Siliciures
Résistance carréeIndex. décimale : 530 Physique Résumé : Ce travail porte sur l’étude de la formation de siliciures par réaction à l’état solide dans les systèmes Ni/Co/Si(111) Les échantillons sont obtenus par évaporation thermique suivie par des recuits réalisés sous vide dans l’intervalle des températures de 300-800 °C. Pour la caractérisation des échantillons Ni/Co/Si(111) on utilise la diffraction des rayons X , la mesure de la résistivité électrique par la méthode des quatre points , la fluorescence X (XRF), et le magnétomètre à échantillon vibrant (VSM) pour étudier les propriétés magnétiques. Pour le système Ni/Co/Si(111), l’étude permet de remarquer la formation de plusieurs siliciures à différentes températures. . En effet, il est mis en évidence la coexistence des deux phases Ni2Si et Ni3Si à 300 °C, la formation de mono siliciure de cobalt et de nickel NiSi à 600°C, suivi par la formation des binaires riches en silicium NiSi2 et CoSi2 à et l’apparition de la phase ternaire (CoxNi1-x)Si a lieu après recuit effectué à 800°C . Note de contenu :
Sommaire
Introduction générale……………………………………………………..……………….1
Chapitre 1 : Généralité sur les contacts silicium
1.1. Introduction .......................................................................................................................... 3
1.2. Définition d’une couche mince ............................................................................................ 3
1.3. Formation des siliciures ....................................................................................................... 3
I.4. Les types des siliciures ......................................................................................................... 5
1.6. Cinétique de croissance des siliciures .................................................................................. 6
1.4.1. Cinétique gouvernée par la diffusion ................................................................................ 7
1.4. 2. Cinétique gouvernée par la réaction ................................................................................ 7
1.4.3.Cinétique gouvernée par la nucléation ............................................................................... 8
1.5. Siliciures de cobalt : ............................................................................................................. 8
1.5.1. Formation du siliciure de cobalt ....................................................................................... 9
1.5.2. Diagramme de phase de cobalt-silicium et structures cristallines .................................... 9
1.6. Siliciures de nickel ............................................................................................................. 11
1.6.1. Formation du siliciure de nickel ..................................................................................... 11
1.6.2. Diagramme de phase de nickel-silicium et structures cristallines .................................. 11
1.7. Références bibliographiques .............................................................................................. 14
Chapitre 2 : Méthode de dépôt et techniques de caractérisations.
2.1. Introduction ........................................................................................................................ 15
2.2. Élaboration des échantillons .............................................................................................. 15
2.2.1. Dépôt physique en phase vapeur (PVD) ..................................................................... …15
2.3. Techniques de Caractérisation utilisées ............................................................................. 19
2.3.1. Diffraction des rayons X (DRX) ..................................................................................... 19
2.3.1.1. Principe de la technique ............................................................................................... 19
2.3.1.2. Méthodes de mesure ................................................................................................... .19
2.3.1.3. Recherche et sélection de phase ............................................................................... …20
2.3.1.4. Détermination de la taille des grains (Méthode de Scherrer) ........................................ 21
2.3.2. Fluorescence des rayons X (XRF) ........................................................................... …….23
2.3.2.1. Principe de la technique ................................................................................................. 23
2.3.2.2. Rayons X et fluorescence............................................................................................... 23
2.3.3. La méthode de quatre points ............................................................................................. 24
2.3.4. Magnétomètre à échantillon vibrant – VSM ................................................................ ….25
2.4. Références bibliographiques…………………………...…………………………….…...27
Chapitre 3 : Résultat et discussions
3.1. Introduction .......................................................................................................................... 28
3.2.1. Processus de nettoyage du substrat Si ........................................................................... …28
3.2.3. Recuits thermiques des échantillons (Ni/Co/Si) ............................................................... 29
3.3. Résultats d’analyse du système Ni/Co/Si (111) ................................................................... 30
3.3.1. Caractérisations structurales par diffraction des rayons X ............................................... 30
3.3.1.1. Paramètres de maille ...................................................................................................... 34
3.3.1.2. Détermination de la taille des grains ............................................................................. 35
3.3.2. Spectrométrie de fluorescence X ...................................................................................... 36
3.3. 3. Caractérisations électriques par la méthode des quatre pointes ....................................... 39
3.3.3.1. Mesure électrique ........................................................................................................... 39
3.3.4. Comportement magnétique des films Ni/Co/Si ................................................................ 40
3.3.4.1 Cycle hystérésis .............................................................................................................. 40
3.3.4.2. Étude de paramètres magnétiques……………………………………......................…42
Conclusion générale…………………………………………………….………………...........44
Côte titre : MAPH/0265 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1Z_9dXpt_zhYS8vLtTYiatp-QOlBz9dUO/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : Etude des propriétés structurelles, électriques et magnétiques des couches minces Ni/Co/Si élaborées par évaporation à effet joule [texte imprimé] / Talbi, Imane, Auteur ; Reffas , mounir, Directeur de thèse . - [S.l.] : Setif:UFA, 2018 . - 1 vol (45 f .) ; 29 cm.
Langues : Français (fre)
Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : Couches minces
Nickel
Cobalt
Siliciures
Résistance carréeIndex. décimale : 530 Physique Résumé : Ce travail porte sur l’étude de la formation de siliciures par réaction à l’état solide dans les systèmes Ni/Co/Si(111) Les échantillons sont obtenus par évaporation thermique suivie par des recuits réalisés sous vide dans l’intervalle des températures de 300-800 °C. Pour la caractérisation des échantillons Ni/Co/Si(111) on utilise la diffraction des rayons X , la mesure de la résistivité électrique par la méthode des quatre points , la fluorescence X (XRF), et le magnétomètre à échantillon vibrant (VSM) pour étudier les propriétés magnétiques. Pour le système Ni/Co/Si(111), l’étude permet de remarquer la formation de plusieurs siliciures à différentes températures. . En effet, il est mis en évidence la coexistence des deux phases Ni2Si et Ni3Si à 300 °C, la formation de mono siliciure de cobalt et de nickel NiSi à 600°C, suivi par la formation des binaires riches en silicium NiSi2 et CoSi2 à et l’apparition de la phase ternaire (CoxNi1-x)Si a lieu après recuit effectué à 800°C . Note de contenu :
Sommaire
Introduction générale……………………………………………………..……………….1
Chapitre 1 : Généralité sur les contacts silicium
1.1. Introduction .......................................................................................................................... 3
1.2. Définition d’une couche mince ............................................................................................ 3
1.3. Formation des siliciures ....................................................................................................... 3
I.4. Les types des siliciures ......................................................................................................... 5
1.6. Cinétique de croissance des siliciures .................................................................................. 6
1.4.1. Cinétique gouvernée par la diffusion ................................................................................ 7
1.4. 2. Cinétique gouvernée par la réaction ................................................................................ 7
1.4.3.Cinétique gouvernée par la nucléation ............................................................................... 8
1.5. Siliciures de cobalt : ............................................................................................................. 8
1.5.1. Formation du siliciure de cobalt ....................................................................................... 9
1.5.2. Diagramme de phase de cobalt-silicium et structures cristallines .................................... 9
1.6. Siliciures de nickel ............................................................................................................. 11
1.6.1. Formation du siliciure de nickel ..................................................................................... 11
1.6.2. Diagramme de phase de nickel-silicium et structures cristallines .................................. 11
1.7. Références bibliographiques .............................................................................................. 14
Chapitre 2 : Méthode de dépôt et techniques de caractérisations.
2.1. Introduction ........................................................................................................................ 15
2.2. Élaboration des échantillons .............................................................................................. 15
2.2.1. Dépôt physique en phase vapeur (PVD) ..................................................................... …15
2.3. Techniques de Caractérisation utilisées ............................................................................. 19
2.3.1. Diffraction des rayons X (DRX) ..................................................................................... 19
2.3.1.1. Principe de la technique ............................................................................................... 19
2.3.1.2. Méthodes de mesure ................................................................................................... .19
2.3.1.3. Recherche et sélection de phase ............................................................................... …20
2.3.1.4. Détermination de la taille des grains (Méthode de Scherrer) ........................................ 21
2.3.2. Fluorescence des rayons X (XRF) ........................................................................... …….23
2.3.2.1. Principe de la technique ................................................................................................. 23
2.3.2.2. Rayons X et fluorescence............................................................................................... 23
2.3.3. La méthode de quatre points ............................................................................................. 24
2.3.4. Magnétomètre à échantillon vibrant – VSM ................................................................ ….25
2.4. Références bibliographiques…………………………...…………………………….…...27
Chapitre 3 : Résultat et discussions
3.1. Introduction .......................................................................................................................... 28
3.2.1. Processus de nettoyage du substrat Si ........................................................................... …28
3.2.3. Recuits thermiques des échantillons (Ni/Co/Si) ............................................................... 29
3.3. Résultats d’analyse du système Ni/Co/Si (111) ................................................................... 30
3.3.1. Caractérisations structurales par diffraction des rayons X ............................................... 30
3.3.1.1. Paramètres de maille ...................................................................................................... 34
3.3.1.2. Détermination de la taille des grains ............................................................................. 35
3.3.2. Spectrométrie de fluorescence X ...................................................................................... 36
3.3. 3. Caractérisations électriques par la méthode des quatre pointes ....................................... 39
3.3.3.1. Mesure électrique ........................................................................................................... 39
3.3.4. Comportement magnétique des films Ni/Co/Si ................................................................ 40
3.3.4.1 Cycle hystérésis .............................................................................................................. 40
3.3.4.2. Étude de paramètres magnétiques……………………………………......................…42
Conclusion générale…………………………………………………….………………...........44
Côte titre : MAPH/0265 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1Z_9dXpt_zhYS8vLtTYiatp-QOlBz9dUO/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité MAPH/0265 MAPH/0265 Mémoire Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleEtude pt- symétrique et pseudo hermétique d'un systéme à 2 niveaux généralise / Bounemel,Fatima
Titre : Etude pt- symétrique et pseudo hermétique d'un systéme à 2 niveaux généralise Type de document : texte imprimé Auteurs : Bounemel,Fatima, Auteur ; Lakehal,halim, Directeur de thèse Editeur : Setif:UFA Année de publication : 2018 Importance : 1 vol (27 f .) Format : 29 cm Langues : Français (fre) Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : System a deux niveau généralisé
Espace de Hilber
PT symétrieIndex. décimale : 530 Physique Note de contenu :
Sommaire
Introduction 6
1 Rappel de la Mécanique Quantique 7
1.1 Lespace de Hilbert H . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
1.2 Opérateur linéaire . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
1.3 Opérateur adjoint . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
1.4 Opérateur hermitien ou auto-adjoint : . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.5 Propriétés des opérateurs hermitiens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.6 Opérateur unitaire . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.7 Base orthonormée . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.8 Relation de fermeture . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.9 Représentation dun opérateur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
1.10 Postulats de la mécanique quantique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2 PT symétrie, CPT symétrie et pseudo-Herméticité 13
2.1 PT symétrie et CPT symétrie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
2.2 Fonctions propres et espace de Hilbert : . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
2.3 Pseudo-Hermiticité . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
2.4 Le pseudo produit scalaire : . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
2.5 Hamiltoniens pseudo-Hermitiens ayant une base biorthonormée complète : . . . 19
3 Le system a deux niveau généralisé : 20
3.1 Les propriétés PT-symétriques des systèmes à deux niveaux . . . . . . . . . . . 21
3.2 La pseudo-Hermiticité des systèmes à deux-niveaux . . . . . . . . . . . . . . . . 22
BibliographieCôte titre : MAPH/0292 Etude pt- symétrique et pseudo hermétique d'un systéme à 2 niveaux généralise [texte imprimé] / Bounemel,Fatima, Auteur ; Lakehal,halim, Directeur de thèse . - [S.l.] : Setif:UFA, 2018 . - 1 vol (27 f .) ; 29 cm.
Langues : Français (fre)
Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : System a deux niveau généralisé
Espace de Hilber
PT symétrieIndex. décimale : 530 Physique Note de contenu :
Sommaire
Introduction 6
1 Rappel de la Mécanique Quantique 7
1.1 Lespace de Hilbert H . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
1.2 Opérateur linéaire . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
1.3 Opérateur adjoint . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
1.4 Opérateur hermitien ou auto-adjoint : . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.5 Propriétés des opérateurs hermitiens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.6 Opérateur unitaire . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.7 Base orthonormée . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.8 Relation de fermeture . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.9 Représentation dun opérateur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
1.10 Postulats de la mécanique quantique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2 PT symétrie, CPT symétrie et pseudo-Herméticité 13
2.1 PT symétrie et CPT symétrie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
2.2 Fonctions propres et espace de Hilbert : . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
2.3 Pseudo-Hermiticité . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
2.4 Le pseudo produit scalaire : . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
2.5 Hamiltoniens pseudo-Hermitiens ayant une base biorthonormée complète : . . . 19
3 Le system a deux niveau généralisé : 20
3.1 Les propriétés PT-symétriques des systèmes à deux niveaux . . . . . . . . . . . 21
3.2 La pseudo-Hermiticité des systèmes à deux-niveaux . . . . . . . . . . . . . . . . 22
BibliographieCôte titre : MAPH/0292 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité MAPH/0292 MAPH/0292 Mémoire Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleEtude qualitative de certaines classes d’auxiliateurs déterministes et stochastiques / Ahmed Bendjeddou
Titre : Etude qualitative de certaines classes d’auxiliateurs déterministes et stochastiques Type de document : texte imprimé Auteurs : Ahmed Bendjeddou, Auteur ; L Abbaoui, Directeur de thèse Editeur : Setif:UFA Année de publication : 2004 Importance : 1 vol (86 f.) Format : 29 cm Catégories : Thèses & Mémoires:Mathématique Mots-clés : Etude qualitative
Auxiliateurs
Déterministes
StochastiquesIndex. décimale : 510 Mathématique Côte titre : DM/0073 Etude qualitative de certaines classes d’auxiliateurs déterministes et stochastiques [texte imprimé] / Ahmed Bendjeddou, Auteur ; L Abbaoui, Directeur de thèse . - [S.l.] : Setif:UFA, 2004 . - 1 vol (86 f.) ; 29 cm.
Catégories : Thèses & Mémoires:Mathématique Mots-clés : Etude qualitative
Auxiliateurs
Déterministes
StochastiquesIndex. décimale : 510 Mathématique Côte titre : DM/0073 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité DM/0073 DM/0073 Mémoire Bibliothéque des sciences Français Disponible
Disponible
Titre : Etude qualitative d’une classe d’équations différentielles du second ordre Type de document : texte imprimé Auteurs : Benatia, Khadidja, Auteur ; Ahmed Bendjeddou, Directeur de thèse Editeur : Setif:UFA Année de publication : 2018 Importance : 1 vol (40 f .) Langues : Français (fre) Langues originales : Français (fre) Catégories : Thèses & Mémoires:Mathématique Mots-clés : Systèmes différentiels planaires
Oscillateurs
points d'équilibre
portrait de phases
Courbe invariante
Solution périodique
Cycle limiteIndex. décimale : 515 -Analysis Résumé : Dans ce mémoire on va étudier une classe d'équations différentielles d'ordre deux avec au moins un point d'équilibre ce type d'équation définie la notion d'oscillateur, on effet les oscillateurs modélisent des phénomènes périodiques réels, comme dans les circuits électriques, et comme tout modèle d'un phénomène d'oscillation autour d'une position d'équilibre. Dans ce travail on va utiliser une méthode constructive pour présenter des classes d'oscillateurs non linéaires, une première classe avec solutions périodiques, et une deuxième classe avec cycles limites. Note de contenu :
Sommaire
Introduction 3
1 Généralités sur les systèmes di¤érentiels 6
1.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
1.2 Equations di¤érentielles et systèmes dynamiques . . . . . . . . . . . . . . . 6
1.3 Points déquilibre . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
1.3.1 Classi cation des points déquilibre . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.4 Portrait de phases . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
1.5 Courbes invariantes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
2 Critères dexistence des solutions périodiques 19
2.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
2.2 Solution périodique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
2.3 Cycle limite . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
2.4 Critères de non existence de solution périodique . . . . . . . . . . . . . . . 22
2.5 Critère dexistence de solution périodique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
2.5.1 Critère 1 (existence de solution périodique) . . . . . . . . . . . . . . 24
2.5.2 Critère 2 (existence de cycle limite) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
3 Oscillateurs avec solutions périodiques 28
3.1 Généralités sur les oscillateurs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
3.1.1 Oscillateur harmonique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
3.2 Oscillateurs avec solutions périodiques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
3.3 Oscillateurs avec cycles limites . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
3.4 Applications . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
3.4.1 Oscillateur avec solutions périodiques . . . . . . . . . . . . . . . . 33
3.4.2 Oscillateur avec cycles limites . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
Conclusion et Perspectives 39
Bibliographie 39
Côte titre : MAM/0279 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1LhOFScHpdGjvY48fPnc-HkfXRdPuD-h1/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : Etude qualitative d’une classe d’équations différentielles du second ordre [texte imprimé] / Benatia, Khadidja, Auteur ; Ahmed Bendjeddou, Directeur de thèse . - [S.l.] : Setif:UFA, 2018 . - 1 vol (40 f .).
Langues : Français (fre) Langues originales : Français (fre)
Catégories : Thèses & Mémoires:Mathématique Mots-clés : Systèmes différentiels planaires
Oscillateurs
points d'équilibre
portrait de phases
Courbe invariante
Solution périodique
Cycle limiteIndex. décimale : 515 -Analysis Résumé : Dans ce mémoire on va étudier une classe d'équations différentielles d'ordre deux avec au moins un point d'équilibre ce type d'équation définie la notion d'oscillateur, on effet les oscillateurs modélisent des phénomènes périodiques réels, comme dans les circuits électriques, et comme tout modèle d'un phénomène d'oscillation autour d'une position d'équilibre. Dans ce travail on va utiliser une méthode constructive pour présenter des classes d'oscillateurs non linéaires, une première classe avec solutions périodiques, et une deuxième classe avec cycles limites. Note de contenu :
Sommaire
Introduction 3
1 Généralités sur les systèmes di¤érentiels 6
1.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
1.2 Equations di¤érentielles et systèmes dynamiques . . . . . . . . . . . . . . . 6
1.3 Points déquilibre . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
1.3.1 Classi cation des points déquilibre . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.4 Portrait de phases . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
1.5 Courbes invariantes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
2 Critères dexistence des solutions périodiques 19
2.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
2.2 Solution périodique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
2.3 Cycle limite . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
2.4 Critères de non existence de solution périodique . . . . . . . . . . . . . . . 22
2.5 Critère dexistence de solution périodique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
2.5.1 Critère 1 (existence de solution périodique) . . . . . . . . . . . . . . 24
2.5.2 Critère 2 (existence de cycle limite) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
3 Oscillateurs avec solutions périodiques 28
3.1 Généralités sur les oscillateurs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
3.1.1 Oscillateur harmonique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
3.2 Oscillateurs avec solutions périodiques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
3.3 Oscillateurs avec cycles limites . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
3.4 Applications . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
3.4.1 Oscillateur avec solutions périodiques . . . . . . . . . . . . . . . . 33
3.4.2 Oscillateur avec cycles limites . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
Conclusion et Perspectives 39
Bibliographie 39
Côte titre : MAM/0279 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1LhOFScHpdGjvY48fPnc-HkfXRdPuD-h1/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité MAM/0279 MAM/0279 Mémoire Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponiblePermalinkPermalinkPermalinkEtude qualitative de quelques classes de systèmes différentiels linéaires par morceaux / Bouthaina SAHNOUNE
PermalinkEtude qualitative de quelques classes de systèmes différentiels non linéaires par morceaux / Ahlem Bouchiba
PermalinkPermalinkPermalinkPermalinkPermalinkEtude quantitative par RMN des impuretés résiduelles d'un solvant usuel en chimie organique: L'Acétate d'éthule / LAIFA, Maroua
PermalinkEtude quasi statique d'un problème électro-élastique de contact avec les conduction de signorini et adhésion / Hireche,Bouthaina
PermalinkEtude quasistatique d'un problème électro-élastique de contact sans frottement avec compliance normale et adhésion / Lamia Satta
PermalinkEtude quasistatique d'un problème électro-viscoélastique de contact sans frottement avec compliance normale et adhésion / Mouna Chouar
PermalinkEtude quasistatique d'un problème viscoélastique de contact sans frottement avec compliance normale et adhésion / Rekia Ouaret
PermalinkPermalinkPermalinkPermalinkPermalinkEtude de quelques problèmes aux limites hyperboliques semi-linéaires existence locale et globale, comportement asymptotique et explosion en temps fini des solutions / Yamna Boukhatem
PermalinkEtude de quelques problèmes aux limites linéaires ou non linéaires intervenant en mécanique des milieux continus / Rahmoune Abita
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