Titre :	Noncontact atomic force microscopy
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	Seizo Morita ; WIESENDANGER,R.
Editeur :	Berlin : Springer
Année de publication :	2002
Collection :	Nanosciences and technology
Importance :	1 vol (439 p.)
Format :	24 cm
ISBN/ISSN/EAN :	978-3-540-43117-6
Note générale :	Index
Catégories :	Physique
Mots-clés :	Physique Microscopie à force atomique: sans contact Force atomique
Index. décimale :	539 physique de la matière ; physique atomique, moléculaire, nucléaire, quantique
Résumé :	Depuis 1995, le microscope à force atomique sans contact (NC-AFM) a réalisé des progrès remarquables. Basé sur des méthodes nanomécaniques, le NC-AFM détecte la faible force d'attraction entre la pointe d'un porte-à-faux et une surface d'échantillon. Cette méthode a les caractéristiques suivantes: elle a une vraie résolution atomique; il peut mesurer des interactions de force atomique, c'est-à-dire il peut être utilisé dans ce qu'on appelle la spectroscopie à force atomique (AFS); il peut également être utilisé pour étudier les isolants; et il peut mesurer des réponses mécaniques telles que la déformation élastique. C'est le premier livre qui traite de tous les problèmes émergents de NC-AFM.
Note de contenu :	Table of contents (20 chapters) Introduction Morita, Seizo Pages 1-10 Preview Buy Chapter $29.95 Principle of NC-AFM Giessibl, Franz J. Pages 11-46 Semiconductor Surfaces Morita, Seizo (et al.) Pages 47-77 Bias Dependence of NC-AFM Images and Tunneling Current Variations on Semiconductor Surfaces Arai, Toyoko (et al.) Pages 79-92 Alkali Halides Bennewitz, Roland (et al.) Pages 93-107 Atomic Resolution Imaging on Fluorides Reichling, Michael (et al.) Pages 109-123 Atomically Resolved Imaging of a NiO(001) Surface Hosoi, Hirotaka (et al.) Pages 125-134 Atomic Structure, Order and Disorder on High Temperature Reconstructed α-Al2O3(0001) Barth, Clemens (et al.) Pages 135-145 NC-AFM Imaging of Surface Reconstructions and Metal Growth on Oxides Pang, Chi Lun (et al.) Pages 147-165 Atoms and Molecules on TiO2(110) and CeO2(111) Surfaces Fukui, Ken-ichi (et al.) Pages 167-181 NC-AFM Imaging of Adsorbed Molecules Sugawara, Yasuhiro Pages 183-192 Organic Molecular Films Yamada, Hirofumi Pages 193-213 Single-Molecule Analysis Sasahara, Akira (et al.) Pages 215-231 Low-Temperature Measurements: Principles, Instrumentation, and Application Allers, Wolf (et al.) Pages 233-256 Theory of Non-Contact Atomic Force Microscopy Tsukada, Masaru (et al.) Pages 257-278 Chemical Interaction in NC-AFM on Semiconductor Surfaces Ke, San-Huang (et al.) Pages 279-304 Contrast Mechanisms on Insulating Surfaces Foster, Adam (et al.) Pages 305-347 Analysis of Microscopy and Spectroscopy Experiments Hölscher, Hendrik Pages 349-369 Theory of Energy Dissipation into Surface Vibrations Gauthier, Michel (et al.) Pages 371-394 Measurement of Dissipation Induced by Tip-Sample Interactions Hug, H. J. (et al.) Pages 395-431
Côte titre :	Fs/2292-2293

Noncontact atomic force microscopy [texte imprimé] / Seizo Morita ; WIESENDANGER,R. . - Berlin : Springer, 2002 . - 1 vol (439 p.) ; 24 cm. - (Nanosciences and technology) .
ISBN : 978-3-540-43117-6
Index

Catégories :	Physique
Mots-clés :	Physique Microscopie à force atomique: sans contact Force atomique
Index. décimale :	539 physique de la matière ; physique atomique, moléculaire, nucléaire, quantique
Résumé :	Depuis 1995, le microscope à force atomique sans contact (NC-AFM) a réalisé des progrès remarquables. Basé sur des méthodes nanomécaniques, le NC-AFM détecte la faible force d'attraction entre la pointe d'un porte-à-faux et une surface d'échantillon. Cette méthode a les caractéristiques suivantes: elle a une vraie résolution atomique; il peut mesurer des interactions de force atomique, c'est-à-dire il peut être utilisé dans ce qu'on appelle la spectroscopie à force atomique (AFS); il peut également être utilisé pour étudier les isolants; et il peut mesurer des réponses mécaniques telles que la déformation élastique. C'est le premier livre qui traite de tous les problèmes émergents de NC-AFM.
Note de contenu :	Table of contents (20 chapters) Introduction Morita, Seizo Pages 1-10 Preview Buy Chapter $29.95 Principle of NC-AFM Giessibl, Franz J. Pages 11-46 Semiconductor Surfaces Morita, Seizo (et al.) Pages 47-77 Bias Dependence of NC-AFM Images and Tunneling Current Variations on Semiconductor Surfaces Arai, Toyoko (et al.) Pages 79-92 Alkali Halides Bennewitz, Roland (et al.) Pages 93-107 Atomic Resolution Imaging on Fluorides Reichling, Michael (et al.) Pages 109-123 Atomically Resolved Imaging of a NiO(001) Surface Hosoi, Hirotaka (et al.) Pages 125-134 Atomic Structure, Order and Disorder on High Temperature Reconstructed α-Al2O3(0001) Barth, Clemens (et al.) Pages 135-145 NC-AFM Imaging of Surface Reconstructions and Metal Growth on Oxides Pang, Chi Lun (et al.) Pages 147-165 Atoms and Molecules on TiO2(110) and CeO2(111) Surfaces Fukui, Ken-ichi (et al.) Pages 167-181 NC-AFM Imaging of Adsorbed Molecules Sugawara, Yasuhiro Pages 183-192 Organic Molecular Films Yamada, Hirofumi Pages 193-213 Single-Molecule Analysis Sasahara, Akira (et al.) Pages 215-231 Low-Temperature Measurements: Principles, Instrumentation, and Application Allers, Wolf (et al.) Pages 233-256 Theory of Non-Contact Atomic Force Microscopy Tsukada, Masaru (et al.) Pages 257-278 Chemical Interaction in NC-AFM on Semiconductor Surfaces Ke, San-Huang (et al.) Pages 279-304 Contrast Mechanisms on Insulating Surfaces Foster, Adam (et al.) Pages 305-347 Analysis of Microscopy and Spectroscopy Experiments Hölscher, Hendrik Pages 349-369 Theory of Energy Dissipation into Surface Vibrations Gauthier, Michel (et al.) Pages 371-394 Measurement of Dissipation Induced by Tip-Sample Interactions Hug, H. J. (et al.) Pages 395-431
Côte titre :	Fs/2292-2293