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Auteur Kharmouche,Ahmed |
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Élaboration de couches minces ferromagnétiques de CoxFe100-x et investigations de leurs propriétés physiques / Melloul,Ahlem
Titre : Élaboration de couches minces ferromagnétiques de CoxFe100-x et investigations de leurs propriétés physiques Type de document : texte imprimé Auteurs : Melloul,Ahlem, Auteur ; Kharmouche,Ahmed, Directeur de thèse Editeur : Setif:UFA Année de publication : 2019 Importance : 1 vol (119 f .) Format : 29 cm Langues : Français (fre) Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : CoFe
Couches minces
DRX
Aimantation à saturation
Champ coercitifIndex. décimale : 530 Physique Résumé :
Dans ce travail de thèse, nous avons étudié les propriétés magnétiques et structurales des
couches minces CoxFe100-x, déposées par évaporation thermique sous vide, sur Si(111) et sur
le verre. La composition chimique des éléments a été identifiée par la technique de la
spectroscopie de fluorescence des rayons x (XRF). Les valeurs de la concentration atomique
du cobalt x sont confinées entre 38 et 65. Les analyses structurales montrent une orientation
préférentielle <110> avec une phase bcc, pour tous les échantillons. Le paramètre de maille et
la microdéformation décroit rapidement avec la composition chimique x. La morphologie et la
topographie des surfaces réalisées par AFM montrent des images surfaciques lisses et
rugueuses. La rugosité des surfaces augmente avec la composition chimique x. L’analyse
magnétique a été réalisée à l’aide d’un magnétomètre à échantillon vibrant (VSM).
L’aimantation à saturation Ms décroit linéairement avec la composition chimique x.
l’évolution du champ coercitif avec la composition chimique, la rugosité des surfaces et la
taille des grains, ont été étudiés, pour les deux séries. Les valeurs de Ms varient entre 1480 et
1730 e.m.u/cm3 pour les échantillons CoxFe100-x/Si (111) et entre 1535 et 1685 e.m.u/cm3 pour
les échantillons Cox Fe100-x/verre. L’axe de facile aimantation est dans le plan des films. Les
courbes d’aimantation présentent des cycles hystérésis carrées, ce qui confirme l’absence
d’anisotropie dans le plan.Note de contenu :
Sommaire
INTRODUCTION GÉNÉRALE…………………………………………… . 1
I. État de l’art de CoFe en couches minces…………………………………………….......4
I.1 État de l’art de l’alliage CoFe. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ………..………………......5
I.2 Formation d’une couche mince . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ………………...……….14
Références bibliographiques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . …………….... ..18
II. Généralités sur le magnétisme …………………………………. ……..………..….... .25
II.1 Origine du magnétisme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ………………………………………..27
II.2 Classification des matériaux magnétiques . . . . . …………………………………….....28
II.3 Magnétisme des métaux de transitions et leurs alliages . . . . . . . ...…….........................32
II.4 La température de Curie…………………………………………………........................33
II.5 Cycles hystérésis……………………………………………………...............................34
II.6 Paramètres influencés par un cycle d’hystérésis……………………...............................35
II.7 Anisotropie magnétique………………………………………………………………....36
II.8 Types de matériaux magnétiques……………………………………………………….39
Références bibliographiques. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ……………….42
III. Procédés d’élaboration et techniques de caractérisations des couches minces……..44
III.1 Procédés d’élaborations des couches minces…………………………………………...46
III.2 Techniques de caractérisation des couches minces……………………………………..58
Références bibliographiques………………………………………………………………..69
IV. Propriétés structurales………………………...………………………………………..71
IV.1. Elaboration des échantillons de CoFe…………………………………………..………73
IV.2. Détermination de la composition chimique et mesure des épaisseurs………………….75
IV.3. Analyse structurale des échantillons CoFe…………………………………..................75
IV.4. Paramètres de maille et microdéformation…………………………………………......80
IV.5. Taille des grains………………………………………………………………………...85
IV.6. Etude morphologique et topographique des surfaces……………………...…… ……..88
Références bibliographiques……………………………………………………………......96
V. Propriétés magnétiques ……………………………………………………………….100
V.1. Analyse magnétique des films CoFe……. ….………………………………………...102
V.2. Cycles d’hystérésis………………………………………………………..……………103
V.3. Aimantation à saturation « Ms »………………………………………….…………....103
V.4. Champ coercitif « Hc » …………………………………………………..……………109
V.5. La squareness « S »…………………………………………………………………….113
Références bibliographiques………. ………………………………………………….. 115
CONCLUSION GÉNÉRALE……………………………………………….119Côte titre : DPH/0228 Élaboration de couches minces ferromagnétiques de CoxFe100-x et investigations de leurs propriétés physiques [texte imprimé] / Melloul,Ahlem, Auteur ; Kharmouche,Ahmed, Directeur de thèse . - [S.l.] : Setif:UFA, 2019 . - 1 vol (119 f .) ; 29 cm.
Langues : Français (fre)
Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : CoFe
Couches minces
DRX
Aimantation à saturation
Champ coercitifIndex. décimale : 530 Physique Résumé :
Dans ce travail de thèse, nous avons étudié les propriétés magnétiques et structurales des
couches minces CoxFe100-x, déposées par évaporation thermique sous vide, sur Si(111) et sur
le verre. La composition chimique des éléments a été identifiée par la technique de la
spectroscopie de fluorescence des rayons x (XRF). Les valeurs de la concentration atomique
du cobalt x sont confinées entre 38 et 65. Les analyses structurales montrent une orientation
préférentielle <110> avec une phase bcc, pour tous les échantillons. Le paramètre de maille et
la microdéformation décroit rapidement avec la composition chimique x. La morphologie et la
topographie des surfaces réalisées par AFM montrent des images surfaciques lisses et
rugueuses. La rugosité des surfaces augmente avec la composition chimique x. L’analyse
magnétique a été réalisée à l’aide d’un magnétomètre à échantillon vibrant (VSM).
L’aimantation à saturation Ms décroit linéairement avec la composition chimique x.
l’évolution du champ coercitif avec la composition chimique, la rugosité des surfaces et la
taille des grains, ont été étudiés, pour les deux séries. Les valeurs de Ms varient entre 1480 et
1730 e.m.u/cm3 pour les échantillons CoxFe100-x/Si (111) et entre 1535 et 1685 e.m.u/cm3 pour
les échantillons Cox Fe100-x/verre. L’axe de facile aimantation est dans le plan des films. Les
courbes d’aimantation présentent des cycles hystérésis carrées, ce qui confirme l’absence
d’anisotropie dans le plan.Note de contenu :
Sommaire
INTRODUCTION GÉNÉRALE…………………………………………… . 1
I. État de l’art de CoFe en couches minces…………………………………………….......4
I.1 État de l’art de l’alliage CoFe. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ………..………………......5
I.2 Formation d’une couche mince . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ………………...……….14
Références bibliographiques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . …………….... ..18
II. Généralités sur le magnétisme …………………………………. ……..………..….... .25
II.1 Origine du magnétisme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ………………………………………..27
II.2 Classification des matériaux magnétiques . . . . . …………………………………….....28
II.3 Magnétisme des métaux de transitions et leurs alliages . . . . . . . ...…….........................32
II.4 La température de Curie…………………………………………………........................33
II.5 Cycles hystérésis……………………………………………………...............................34
II.6 Paramètres influencés par un cycle d’hystérésis……………………...............................35
II.7 Anisotropie magnétique………………………………………………………………....36
II.8 Types de matériaux magnétiques……………………………………………………….39
Références bibliographiques. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ……………….42
III. Procédés d’élaboration et techniques de caractérisations des couches minces……..44
III.1 Procédés d’élaborations des couches minces…………………………………………...46
III.2 Techniques de caractérisation des couches minces……………………………………..58
Références bibliographiques………………………………………………………………..69
IV. Propriétés structurales………………………...………………………………………..71
IV.1. Elaboration des échantillons de CoFe…………………………………………..………73
IV.2. Détermination de la composition chimique et mesure des épaisseurs………………….75
IV.3. Analyse structurale des échantillons CoFe…………………………………..................75
IV.4. Paramètres de maille et microdéformation…………………………………………......80
IV.5. Taille des grains………………………………………………………………………...85
IV.6. Etude morphologique et topographique des surfaces……………………...…… ……..88
Références bibliographiques……………………………………………………………......96
V. Propriétés magnétiques ……………………………………………………………….100
V.1. Analyse magnétique des films CoFe……. ….………………………………………...102
V.2. Cycles d’hystérésis………………………………………………………..……………103
V.3. Aimantation à saturation « Ms »………………………………………….…………....103
V.4. Champ coercitif « Hc » …………………………………………………..……………109
V.5. La squareness « S »…………………………………………………………………….113
Références bibliographiques………. ………………………………………………….. 115
CONCLUSION GÉNÉRALE……………………………………………….119Côte titre : DPH/0228 Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité aucun exemplaire Élaboration et investigations de propriétés physiques de couches minces ferromagnétiques de Fe100-xPdx / Benhamoud,Ahlam
Titre : Élaboration et investigations de propriétés physiques de couches minces ferromagnétiques de Fe100-xPdx Type de document : texte imprimé Auteurs : Benhamoud,Ahlam, Auteur ; Kharmouche,Ahmed, Directeur de thèse Editeur : Setif:UFA Année de publication : 2020 Importance : 1 vol (116 f .) Format : 29 cm Langues : Français (fre) Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : FePd
Couches mincesIndex. décimale : 530 Physique Résumé :
Dans ce travail de thèse, nous avons étudié les propriétés structurales et magnétiques des
couches minces Fe100-xPdx d’épaisseur 150 nm évaporées sous vide sur deux substrats de
silicium monocristallin Si(100) et Si(111). Les compositions chimiques des éléments ont été
identifiées à l’aide d’un microscope électronique à balayage SEM équipé d'un analyseur
EDX. Les valeurs de la concentration atomique de Pd sont confinées entre 18 et 34%. L’étude
structurale par DRX montre que les films Fe100-xPdx/Si(100) sont polycristallins et ont une
structure cubique à faces centrées (c.f.c) et les films Fe100-xPdx /Si(111) sont amorphes. Le
paramètre de maille augmente avec l’augmentation de la teneur en Pd. La taille des grains des
échantillons déposés sur Si(100) est confinée entre 85 et 100 nm. Par ailleurs, la microscopie
AFM révèle des images topographiques de surfaces lisses et rugueuses; les valeurs de
rugosité sont confinées entre 0.8 et 1.9 nm pour les films déposées sur Si(100) et varient entre
1.4 et 8.1nm pour les films déposés sur Si(111). L’étude magnétique a été réalisée à l’aide
d’un magnétomètre à échantillon vibrant (VSM). Les courbes d’aimantation montrent que les
films sont ferromagnétiques, l’axe de facile aimantation est dans le plan des films, avec une
absence totale d’anisotrope planaire. Les valeurs de l'aimantation à saturation varient entre
1130 et 1356 e.m.u./cm3 pour les échantillons Fe100-xPdx /Si(100), et entre 1133 et 1350
e.m.u./cm3 pour Fe100-xPdx /Si(111) et diminuent avec l’augmentation de la teneur en Pd.Côte titre : DPH/0238 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1hwPwtJcSj6DT41cAKGz2qXmjD-tUboYT/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : Élaboration et investigations de propriétés physiques de couches minces ferromagnétiques de Fe100-xPdx [texte imprimé] / Benhamoud,Ahlam, Auteur ; Kharmouche,Ahmed, Directeur de thèse . - [S.l.] : Setif:UFA, 2020 . - 1 vol (116 f .) ; 29 cm.
Langues : Français (fre)
Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : FePd
Couches mincesIndex. décimale : 530 Physique Résumé :
Dans ce travail de thèse, nous avons étudié les propriétés structurales et magnétiques des
couches minces Fe100-xPdx d’épaisseur 150 nm évaporées sous vide sur deux substrats de
silicium monocristallin Si(100) et Si(111). Les compositions chimiques des éléments ont été
identifiées à l’aide d’un microscope électronique à balayage SEM équipé d'un analyseur
EDX. Les valeurs de la concentration atomique de Pd sont confinées entre 18 et 34%. L’étude
structurale par DRX montre que les films Fe100-xPdx/Si(100) sont polycristallins et ont une
structure cubique à faces centrées (c.f.c) et les films Fe100-xPdx /Si(111) sont amorphes. Le
paramètre de maille augmente avec l’augmentation de la teneur en Pd. La taille des grains des
échantillons déposés sur Si(100) est confinée entre 85 et 100 nm. Par ailleurs, la microscopie
AFM révèle des images topographiques de surfaces lisses et rugueuses; les valeurs de
rugosité sont confinées entre 0.8 et 1.9 nm pour les films déposées sur Si(100) et varient entre
1.4 et 8.1nm pour les films déposés sur Si(111). L’étude magnétique a été réalisée à l’aide
d’un magnétomètre à échantillon vibrant (VSM). Les courbes d’aimantation montrent que les
films sont ferromagnétiques, l’axe de facile aimantation est dans le plan des films, avec une
absence totale d’anisotrope planaire. Les valeurs de l'aimantation à saturation varient entre
1130 et 1356 e.m.u./cm3 pour les échantillons Fe100-xPdx /Si(100), et entre 1133 et 1350
e.m.u./cm3 pour Fe100-xPdx /Si(111) et diminuent avec l’augmentation de la teneur en Pd.Côte titre : DPH/0238 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1hwPwtJcSj6DT41cAKGz2qXmjD-tUboYT/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité DPH/0238 DPH/0238 Thèse Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleÉlaboration et investigations de propriétés strucurales, électriques et magnétiques de couches minces ferromagnétques de FexNi100-x / Lamine Taberkani
Titre : Élaboration et investigations de propriétés strucurales, électriques et magnétiques de couches minces ferromagnétques de FexNi100-x Type de document : document électronique Auteurs : Lamine Taberkani, Auteur ; Kharmouche,Ahmed, Directeur de thèse Année de publication : 2023 Importance : 1 vol (114 f .) Format : 29cm Langues : Français (fre) Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : FeNi
DRX
RBS
VSM
Magnétisation
Résistivité électriqueIndex. décimale : 530-Physique Résumé : Des couches minces polycristallines de FexNi1-x ont été synthétisées avec succès par dépôt
physique en phase vapeur sous vide. La teneur atomique en fer varie de 20 Ã 45 %. Les
propriétés physiques des couches minces sont étudiées ainsi que l'impact du pourcentage de Fe
sur leurs propriétés structurales, électriques et magnétiques est examiné. Pour déterminer la
structure, la microstructure, la morphologie de surface, les compositions chimiques, les
propriétés électriques et magnétiques, les films déposés ont été analysés par spectrométrie de
rétrodiffusion Rutherford, diffraction des rayons X, microscopie à force atomique, système de
mesures à effet Hall (HMS-3000) et magnétomètre à échantillon vibrant. Les spectres de
diffraction des rayons X obtenus présentaient une structure cubique à faces centrées avec une
orientation préférentielle <111>. La taille des cristallites et le paramètre de réseau augmentent
avec l'augmentation de la teneur en fer. La résistivité électrique et la magnétorésistance
augmentent avec l'augmentation de pourcentage du fer dans le film, tandis que la mobilité
diminue. Les courbes d'aimantation induisent un axe facile dans le plan sans aucune direction
préférentielle. On constate également que Ms augmente et Hc diminue avec l'augmentation de
la teneur en fer = Polycrystalline FexNi1-x thin films were successfully synthesized via physical vapor
deposition under vacuum. The iron atomic content is ranging from 20 to 45%. The thin films
physical properties are studied and the impact of Fe percentage on their structural, electrical
and magnetic properties is examined. To determine their structure, microstructure, surface
morphology, chemical compositions, electrical and magnetic properties, the deposited films
were analyzed by Rutherford Backscattering Spectrometry, X-ray diffraction, atomic force
microscopy, Hall Effect measurement system (HMS-3000) and Vibrating Sample
Magnetometer tools. The achieved X-ray diffraction spectra exhibited face centered cubic
structure with <111> preferred orientation. The crystallite size and lattice parameter increase
with increasing iron content. Both of electrical resistivity and magnetoresistance decrease with
increasing iron percentage, whereas mobility decreases. Magnetization curves infer an in-plane
easy axis without any preferential direction. It is also found that Ms increases and Hc decreases
with iron content increase.Côte titre : DPH/0292 En ligne : http://dspace.univ-setif.dz:8888/jspui/bitstream/123456789/4216/1/THESE%20DOCTOR [...] Format de la ressource électronique : Élaboration et investigations de propriétés strucurales, électriques et magnétiques de couches minces ferromagnétques de FexNi100-x [document électronique] / Lamine Taberkani, Auteur ; Kharmouche,Ahmed, Directeur de thèse . - 2023 . - 1 vol (114 f .) ; 29cm.
Langues : Français (fre)
Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : FeNi
DRX
RBS
VSM
Magnétisation
Résistivité électriqueIndex. décimale : 530-Physique Résumé : Des couches minces polycristallines de FexNi1-x ont été synthétisées avec succès par dépôt
physique en phase vapeur sous vide. La teneur atomique en fer varie de 20 Ã 45 %. Les
propriétés physiques des couches minces sont étudiées ainsi que l'impact du pourcentage de Fe
sur leurs propriétés structurales, électriques et magnétiques est examiné. Pour déterminer la
structure, la microstructure, la morphologie de surface, les compositions chimiques, les
propriétés électriques et magnétiques, les films déposés ont été analysés par spectrométrie de
rétrodiffusion Rutherford, diffraction des rayons X, microscopie à force atomique, système de
mesures à effet Hall (HMS-3000) et magnétomètre à échantillon vibrant. Les spectres de
diffraction des rayons X obtenus présentaient une structure cubique à faces centrées avec une
orientation préférentielle <111>. La taille des cristallites et le paramètre de réseau augmentent
avec l'augmentation de la teneur en fer. La résistivité électrique et la magnétorésistance
augmentent avec l'augmentation de pourcentage du fer dans le film, tandis que la mobilité
diminue. Les courbes d'aimantation induisent un axe facile dans le plan sans aucune direction
préférentielle. On constate également que Ms augmente et Hc diminue avec l'augmentation de
la teneur en fer = Polycrystalline FexNi1-x thin films were successfully synthesized via physical vapor
deposition under vacuum. The iron atomic content is ranging from 20 to 45%. The thin films
physical properties are studied and the impact of Fe percentage on their structural, electrical
and magnetic properties is examined. To determine their structure, microstructure, surface
morphology, chemical compositions, electrical and magnetic properties, the deposited films
were analyzed by Rutherford Backscattering Spectrometry, X-ray diffraction, atomic force
microscopy, Hall Effect measurement system (HMS-3000) and Vibrating Sample
Magnetometer tools. The achieved X-ray diffraction spectra exhibited face centered cubic
structure with <111> preferred orientation. The crystallite size and lattice parameter increase
with increasing iron content. Both of electrical resistivity and magnetoresistance decrease with
increasing iron percentage, whereas mobility decreases. Magnetization curves infer an in-plane
easy axis without any preferential direction. It is also found that Ms increases and Hc decreases
with iron content increase.Côte titre : DPH/0292 En ligne : http://dspace.univ-setif.dz:8888/jspui/bitstream/123456789/4216/1/THESE%20DOCTOR [...] Format de la ressource électronique : Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité DPH/0292 DPH/0292 Thèse Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleÉlaboration sous vide et investigations de propriétés physiques de films minces ferromagnétiques de Permalloy / Ounissa Cherrad
Titre : Élaboration sous vide et investigations de propriétés physiques de films minces ferromagnétiques de Permalloy Type de document : document électronique Auteurs : Ounissa Cherrad, Auteur ; Kharmouche,Ahmed, Directeur de thèse Année de publication : 2023 Importance : 1 vol (141 f .) Format : 29cm Langues : Français (fre) Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : Films de Permalloy
DRX
MEB-EDX
Résistivité
MagnétorésistanceIndex. décimale : 530-Physique Résumé : Des films minces de Permalloy, Ni80Fe20 (Py), de différentes épaisseurs, évaporés
thermiquement sur deux substrats distincts, GaAs (100) et Si(100), sont étudiés dans ce
travail. L'effet de l'épaisseur de Py sur leurs propriétés physiques est examiné. Afin de
déterminer leur structure, microstructure, morphologie de surface, compositions chimiques et
propriétés électriques, les films de Py ont été analysés par diffraction des rayons X (XRD),
microscopie électronique à balayage équipée d'un analyseur de rayons X à dispersion
d'énergie (SEM-EDS), microscopie à force atomique (AFM) et le système de mesure de l'effet
Hall (HMS-5300). Les spectres de diffraction des rayons X obtenus confirment la formation
de la phase Ni3Fe et montrent que tous les échantillons cristallisent dans une structure CFC
avec une orientation préférentielle <111>. La taille des cristallites et le paramètre de maille,
calculés à partir de la diffraction des rayons X du pic dominant (111), augmentent avec
l'augmentation de l'épaisseur pour les échantillons Py/GaAs, alors qu’ils diminuent avec
l'augmentation de l'épaisseur des films Py/Si. Globalement, les valeurs du paramètre de
maille obtenues pour tous les échantillons sont assez proches de celles du massif rapportées
dans la littérature abulk=3.5523 Ǻ. Les micrographies MEB des échantillons de Py/GaAs
présentent une structure extrêmement dense sans micro-fissures et une distribution de grains
sphériques très fine, et montrent clairement une distribution non uniforme d'agrégats quasisphériques sur la surface granulaire des films Py/Si, ainsi que l'apparition de microfissures
pour le film le plus épais de 307 nm d'épaisseur. De plus, les images AFM présentent une
surface très lisse pour tous les films Py/GaAs déposés, ainsi que la formation de cristallites en
mode Stranski-Krastanov pour les films Py/Si, avec des valeurs de rugosité comprises entre
0.1999 et 2.482 nm. Les mesures électriques ont révélé que la résistivité électrique et la
magnétorésistance diminuent avec l'augmentation de l'épaisseur du film, tandis que la
mobilité augmente = The thermally evaporated Permalloy Ni80Fe20 (Py) thin films on two different
substrates, GaAs (100) and Si(100), with different thickness, are studied in this work. The
effect of Py thickness on their physical properties is examined. In order to determine their
structure, microstructure, surface morphology, chemical compositions and electrical
properties, the deposited Py films were analyzed by X-ray diffraction (XRD), scanning
electron microscopy equipped with an energy dispersive X-ray analyzer (SEM-EDS), atomic
force microscopy (AFM) and the Hall Effect measurement system (HMS-5300) tools. The
obtained X-ray diffraction spectra confirm the formation of Ni3Fe phase and showed that all
samples crystallize in FCC structure with <111> preferred orientation. The grain size and
lattice parameter were calculated from X-ray diffraction (111) peak and have shown an
increase with increasing thickness for Py/GaAs samples, while we noticed a decrease with
increasing film thickness of Py/Si samples. In general, the values of the lattice parameter
obtained for all samples, are somewhat close to that of bulk reported in the literature
abulk=3.5523 Ǻ.SEM micrographs of Py/GaAs samples exhibited an extremely dense structure
without micro-cracks and a very fine spherical grain distribution, and clearly show a nonuniform distribution of quasi-spherical aggregates on the granular surface of Py/Si films, as
well as the appearance of micro-cracks for the thickest film of 307 nm thickness. In addition,
AFM images showed a very smooth surface for all deposited Py/GaAs films, as well as the
formation of crystallites in Stranski-Krastanov mode for Py/Si films, with the roughness
values ranging from 0.1999 to 2.482 nm. Electrical measurements revealed that the electrical
resistivity and the magnetoresistance decreased with increasing film thickness, while the
mobility increased.Côte titre : DPH/0293 En ligne : http://dspace.univ-setif.dz:8888/jspui/handle/123456789/4169 Format de la ressource électronique : Élaboration sous vide et investigations de propriétés physiques de films minces ferromagnétiques de Permalloy [document électronique] / Ounissa Cherrad, Auteur ; Kharmouche,Ahmed, Directeur de thèse . - 2023 . - 1 vol (141 f .) ; 29cm.
Langues : Français (fre)
Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : Films de Permalloy
DRX
MEB-EDX
Résistivité
MagnétorésistanceIndex. décimale : 530-Physique Résumé : Des films minces de Permalloy, Ni80Fe20 (Py), de différentes épaisseurs, évaporés
thermiquement sur deux substrats distincts, GaAs (100) et Si(100), sont étudiés dans ce
travail. L'effet de l'épaisseur de Py sur leurs propriétés physiques est examiné. Afin de
déterminer leur structure, microstructure, morphologie de surface, compositions chimiques et
propriétés électriques, les films de Py ont été analysés par diffraction des rayons X (XRD),
microscopie électronique à balayage équipée d'un analyseur de rayons X à dispersion
d'énergie (SEM-EDS), microscopie à force atomique (AFM) et le système de mesure de l'effet
Hall (HMS-5300). Les spectres de diffraction des rayons X obtenus confirment la formation
de la phase Ni3Fe et montrent que tous les échantillons cristallisent dans une structure CFC
avec une orientation préférentielle <111>. La taille des cristallites et le paramètre de maille,
calculés à partir de la diffraction des rayons X du pic dominant (111), augmentent avec
l'augmentation de l'épaisseur pour les échantillons Py/GaAs, alors qu’ils diminuent avec
l'augmentation de l'épaisseur des films Py/Si. Globalement, les valeurs du paramètre de
maille obtenues pour tous les échantillons sont assez proches de celles du massif rapportées
dans la littérature abulk=3.5523 Ǻ. Les micrographies MEB des échantillons de Py/GaAs
présentent une structure extrêmement dense sans micro-fissures et une distribution de grains
sphériques très fine, et montrent clairement une distribution non uniforme d'agrégats quasisphériques sur la surface granulaire des films Py/Si, ainsi que l'apparition de microfissures
pour le film le plus épais de 307 nm d'épaisseur. De plus, les images AFM présentent une
surface très lisse pour tous les films Py/GaAs déposés, ainsi que la formation de cristallites en
mode Stranski-Krastanov pour les films Py/Si, avec des valeurs de rugosité comprises entre
0.1999 et 2.482 nm. Les mesures électriques ont révélé que la résistivité électrique et la
magnétorésistance diminuent avec l'augmentation de l'épaisseur du film, tandis que la
mobilité augmente = The thermally evaporated Permalloy Ni80Fe20 (Py) thin films on two different
substrates, GaAs (100) and Si(100), with different thickness, are studied in this work. The
effect of Py thickness on their physical properties is examined. In order to determine their
structure, microstructure, surface morphology, chemical compositions and electrical
properties, the deposited Py films were analyzed by X-ray diffraction (XRD), scanning
electron microscopy equipped with an energy dispersive X-ray analyzer (SEM-EDS), atomic
force microscopy (AFM) and the Hall Effect measurement system (HMS-5300) tools. The
obtained X-ray diffraction spectra confirm the formation of Ni3Fe phase and showed that all
samples crystallize in FCC structure with <111> preferred orientation. The grain size and
lattice parameter were calculated from X-ray diffraction (111) peak and have shown an
increase with increasing thickness for Py/GaAs samples, while we noticed a decrease with
increasing film thickness of Py/Si samples. In general, the values of the lattice parameter
obtained for all samples, are somewhat close to that of bulk reported in the literature
abulk=3.5523 Ǻ.SEM micrographs of Py/GaAs samples exhibited an extremely dense structure
without micro-cracks and a very fine spherical grain distribution, and clearly show a nonuniform distribution of quasi-spherical aggregates on the granular surface of Py/Si films, as
well as the appearance of micro-cracks for the thickest film of 307 nm thickness. In addition,
AFM images showed a very smooth surface for all deposited Py/GaAs films, as well as the
formation of crystallites in Stranski-Krastanov mode for Py/Si films, with the roughness
values ranging from 0.1999 to 2.482 nm. Electrical measurements revealed that the electrical
resistivity and the magnetoresistance decreased with increasing film thickness, while the
mobility increased.Côte titre : DPH/0293 En ligne : http://dspace.univ-setif.dz:8888/jspui/handle/123456789/4169 Format de la ressource électronique : Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité DPH/0293 DPH/0293 Thèse Bibliothéque des sciences Français Disponible
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