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Elaboration et étude des nanostructures de Cu2O obtenus par électrodéposition : effet d'un tensioactif / Tarek Khatir,
Titre : Elaboration et étude des nanostructures de Cu2O obtenus par électrodéposition : effet d'un tensioactif Type de document : texte imprimé Auteurs : Tarek Khatir, ; Loubna Mentar, Directeur de thèse Année de publication : 2017 Importance : 1 vol (57 f.) Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : Ingénierie des Matériaux Index. décimale : 530 Physique Résumé : Dans ce travail, nous nous sommes intéressés à l’effet du tensioactif (SDS) sur les caractéristiques électrochimiques, morphologiques, structurales et optiques des couches de Cu2O déposés sur un substrat FTO à partir d’un bain sulfate. L’étude cinétique de dépôt par voltammétrique a permis d’optimiser les conditions d’électro-déposition de ces nanostructures. L’analyse des transitoires de courant a permis d’identifier les mécanismes de l’électrodéposition ainsi que d’élaborer les dépôts de Cu2O. Les mesures de Mott-Schottky ont montré que les dépôts élaborés en présence de (0 ; 0,001 ; 0,002 ; 0,003 M) de SDS présentent une conductivité de type n avec une diminution de la concentration des porteurs de charges, et les dépôts élaborés en (0,004 et 0,005 M) de SDS présentent une conductivité de type p avec une augmentation de la concentration des porteurs de charges. La caractérisation structurale, morphologique et optique des échantillons a été déterminée par DRX, AFM, et UV-Vis–NIR. La DRX indique que les films ont une structure cubique de Cu2O pur et que le SDS a une influence sur la cristallinité. La morphologie de la surface des films varie avec la concentration de SDS. Les propriétés optiques indiquent que la transmission des échantillons est élevée et le gap optique présente une légère variation Côte titre : MAPH/0186 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1Qrvnfh4ovqJBija3L3YyJHYE-HeokEcA/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : Elaboration et étude des nanostructures de Cu2O obtenus par électrodéposition : effet d'un tensioactif [texte imprimé] / Tarek Khatir, ; Loubna Mentar, Directeur de thèse . - 2017 . - 1 vol (57 f.).
Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : Ingénierie des Matériaux Index. décimale : 530 Physique Résumé : Dans ce travail, nous nous sommes intéressés à l’effet du tensioactif (SDS) sur les caractéristiques électrochimiques, morphologiques, structurales et optiques des couches de Cu2O déposés sur un substrat FTO à partir d’un bain sulfate. L’étude cinétique de dépôt par voltammétrique a permis d’optimiser les conditions d’électro-déposition de ces nanostructures. L’analyse des transitoires de courant a permis d’identifier les mécanismes de l’électrodéposition ainsi que d’élaborer les dépôts de Cu2O. Les mesures de Mott-Schottky ont montré que les dépôts élaborés en présence de (0 ; 0,001 ; 0,002 ; 0,003 M) de SDS présentent une conductivité de type n avec une diminution de la concentration des porteurs de charges, et les dépôts élaborés en (0,004 et 0,005 M) de SDS présentent une conductivité de type p avec une augmentation de la concentration des porteurs de charges. La caractérisation structurale, morphologique et optique des échantillons a été déterminée par DRX, AFM, et UV-Vis–NIR. La DRX indique que les films ont une structure cubique de Cu2O pur et que le SDS a une influence sur la cristallinité. La morphologie de la surface des films varie avec la concentration de SDS. Les propriétés optiques indiquent que la transmission des échantillons est élevée et le gap optique présente une légère variation Côte titre : MAPH/0186 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1Qrvnfh4ovqJBija3L3YyJHYE-HeokEcA/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité MAPH/0186 MAPH/0186 Mémoire Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleElaboration et étude des propriétés structural et électriques des couches mince de Ni/Cu et Ni/Verre / Chemseddine Nacereddine
Titre : Elaboration et étude des propriétés structural et électriques des couches mince de Ni/Cu et Ni/Verre Type de document : texte imprimé Auteurs : Chemseddine Nacereddine ; A. Layadi, Directeur de thèse Editeur : Setif:UFA Année de publication : 2004 Importance : 1 vol (51 f .) Format : 29 cm Langues : Français (fre) Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : Propriétés structural Index. décimale : 530 Physique Résumé :
Dans ce travail, on a élabore et étudiées propriétés structurales et électriques des couches minces de Ni sur Cu et sur verre, déposées par
évaporation sous vide. Les substrats de Cu ont été polis mécaniquement à l'aide d'une poudre d'alumine très fine. On a 6labord des séries
échantillonnons avec différentes épaisseurs,chacune d'elle comporte deux substrats de Cu et autant de verre. La mesure des épaisseurs a été faite par simulation de spectres RBS pour le système Ni/verre et généralise pou le système Ni/Cu de la même série d'évaporation Les images du MEB montrent des surfaces rugueuses pour la plupart des échantillons visualis6s Ceci suggère une croissance colonnaire des films de Ni sur Cu et sur verre. les grains formes sur le Cu ont ure taille plus grande que ceux sur le verre pour la mème épaisseur. Aussi les grains
de Ni sont distincts sur Cu, ce qui est peut être du a la rugosité de Cu ou a d'autres raisons qu'on a exposées dans le texte, chose non constatée pour le Ni/verre. Les résistances carrées de tous nos films de Ni/verre sont finies, ce qui indique leurs continuités. Les résistivités correspondantes diminuent avec l'augmentation de l'épaisseur. [,e comportement électrique des couches minces de Ni/Cu est entièrement dicté par le substrat. les résistances mesurées pour ce système sont très faibles (de l'ordre du milliohm), Des modèles théoriques ont été appliqu6s i nos résultats expérimentaux et on a trouv6 que dans le système Ni/verre, la diffusion
des 6lectrons de conduction i la surface n'est pas très apparente; c'est la diffusion aux joints de Sains qui domine les rdsistivit6s mesuréesCôte titre : MPH/0250,MPH/0012-0016 Elaboration et étude des propriétés structural et électriques des couches mince de Ni/Cu et Ni/Verre [texte imprimé] / Chemseddine Nacereddine ; A. Layadi, Directeur de thèse . - [S.l.] : Setif:UFA, 2004 . - 1 vol (51 f .) ; 29 cm.
Langues : Français (fre)
Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : Propriétés structural Index. décimale : 530 Physique Résumé :
Dans ce travail, on a élabore et étudiées propriétés structurales et électriques des couches minces de Ni sur Cu et sur verre, déposées par
évaporation sous vide. Les substrats de Cu ont été polis mécaniquement à l'aide d'une poudre d'alumine très fine. On a 6labord des séries
échantillonnons avec différentes épaisseurs,chacune d'elle comporte deux substrats de Cu et autant de verre. La mesure des épaisseurs a été faite par simulation de spectres RBS pour le système Ni/verre et généralise pou le système Ni/Cu de la même série d'évaporation Les images du MEB montrent des surfaces rugueuses pour la plupart des échantillons visualis6s Ceci suggère une croissance colonnaire des films de Ni sur Cu et sur verre. les grains formes sur le Cu ont ure taille plus grande que ceux sur le verre pour la mème épaisseur. Aussi les grains
de Ni sont distincts sur Cu, ce qui est peut être du a la rugosité de Cu ou a d'autres raisons qu'on a exposées dans le texte, chose non constatée pour le Ni/verre. Les résistances carrées de tous nos films de Ni/verre sont finies, ce qui indique leurs continuités. Les résistivités correspondantes diminuent avec l'augmentation de l'épaisseur. [,e comportement électrique des couches minces de Ni/Cu est entièrement dicté par le substrat. les résistances mesurées pour ce système sont très faibles (de l'ordre du milliohm), Des modèles théoriques ont été appliqu6s i nos résultats expérimentaux et on a trouv6 que dans le système Ni/verre, la diffusion
des 6lectrons de conduction i la surface n'est pas très apparente; c'est la diffusion aux joints de Sains qui domine les rdsistivit6s mesuréesCôte titre : MPH/0250,MPH/0012-0016 Exemplaires (6)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité MPH/0012 MPH/0012-0016 Mémoire Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleMPH/0014 MPH/0012-0016 Mémoire Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleMPH/0013 MPH/0012-0016 Mémoire Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleMPH/0015 MPH/0012-0016 Mémoire Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleMPH/0016 MPH/0012-0016 Mémoire Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleMPH/0250 MPH/0250 Mémoire Bibliothéque des sciences Français Disponible
Disponible
Titre : Élaboration d’une formule empirique pour la Demi-vie de la décroissance alpha Type de document : texte imprimé Auteurs : Selma Zemmame ; Ferial Trad ; Naima Amrani, Directeur de thèse Editeur : Setif:UFA Année de publication : 2021 Importance : 1 vol. (43f.) Format : 29 cm Langues : Français (fre) Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : Geiger-Nuttall
Isotope
Demi-de vie
Décroissance AlphaIndex. décimale : 530 Physique Résumé :
Dans cette étude, nous avons utilisé la formule de Geiger Nuttall dans le
cas des isotopes pair-pair dont le nombre atomique 82≤Z≤102 pour calculer le
logarithme de la période de demi de vie des noyaux lourds émis des particules
Alpha, ainsi que nous avons utilisé deux autres modèles Royer etWapstra pour
comparer les résultats obtenus par notre modèle proposé. Ensuite, nous avons
calculé l’écart normal et l’écart quadratique moyen en plus le rapport entre le
logarithme expérimental et calculé pour tester la crédibilité de notre modèle
proposé pour l’étude la décroissance Alpha.Côte titre : MAPH/0459 En ligne : https://drive.google.com/file/d/11nHlze60hMN6Kkn4eIzn_zTN6YpEpQUc/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : Élaboration d’une formule empirique pour la Demi-vie de la décroissance alpha [texte imprimé] / Selma Zemmame ; Ferial Trad ; Naima Amrani, Directeur de thèse . - [S.l.] : Setif:UFA, 2021 . - 1 vol. (43f.) ; 29 cm.
Langues : Français (fre)
Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : Geiger-Nuttall
Isotope
Demi-de vie
Décroissance AlphaIndex. décimale : 530 Physique Résumé :
Dans cette étude, nous avons utilisé la formule de Geiger Nuttall dans le
cas des isotopes pair-pair dont le nombre atomique 82≤Z≤102 pour calculer le
logarithme de la période de demi de vie des noyaux lourds émis des particules
Alpha, ainsi que nous avons utilisé deux autres modèles Royer etWapstra pour
comparer les résultats obtenus par notre modèle proposé. Ensuite, nous avons
calculé l’écart normal et l’écart quadratique moyen en plus le rapport entre le
logarithme expérimental et calculé pour tester la crédibilité de notre modèle
proposé pour l’étude la décroissance Alpha.Côte titre : MAPH/0459 En ligne : https://drive.google.com/file/d/11nHlze60hMN6Kkn4eIzn_zTN6YpEpQUc/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité MAPH/0459 MAPH/0459 Mémoire Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleElaboration d’une formule empirique de la section efficace pour la réaction (n, 2n) à 14.5Mev / Lynda Mestari
Titre : Elaboration d’une formule empirique de la section efficace pour la réaction (n, 2n) à 14.5Mev Type de document : texte imprimé Auteurs : Lynda Mestari ; Naima Amrani, Directeur de thèse Editeur : Setif:UFA Année de publication : 2016 Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : Subatomique Index. décimale : 530 Physique Note de contenu :
Parmi les réactions induites par les neutrons, les réactions de type (n, xn) qui sont importantes pour caractériser les réacteurs nucléaires de prochaine génération reposant sur des neutrons rapides.La réaction (n, 2n)est l’une des réactions nucléaires dans lesquelles plus de deux particules sont formées. Ce type de réaction nucléaires induites par des neutrons nécessite une énergie incidente de seuil pour ce produire. Pour la réaction (n, 2n) cette énergie est environ 10 MeV
Dans cette étude on proposé une formule empirique pour le calcul rapide et fiable de la section efficace de la réaction (n, 2n) à une énergie des neutrons incidents de 14,5MeV.
Cette formule empirique proposée pour le calcul de la section efficace de la réaction (n, 2n) pour des énergie des neutrons incidents de 14,5MeV a un meilleur accord avec la plus part des formules empiriques présentées et accord le mieux avec les résultats expérimentales; en outre elle nous permet d’estimer rapidement et avec précision, relativement bonne, la valeur de la section efficace.
Côte titre : MAPH/0171 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1d87sAhIPpcpmfljS-SgHLYVV6dKPuSxF/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : docx Elaboration d’une formule empirique de la section efficace pour la réaction (n, 2n) à 14.5Mev [texte imprimé] / Lynda Mestari ; Naima Amrani, Directeur de thèse . - [S.l.] : Setif:UFA, 2016.
Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : Subatomique Index. décimale : 530 Physique Note de contenu :
Parmi les réactions induites par les neutrons, les réactions de type (n, xn) qui sont importantes pour caractériser les réacteurs nucléaires de prochaine génération reposant sur des neutrons rapides.La réaction (n, 2n)est l’une des réactions nucléaires dans lesquelles plus de deux particules sont formées. Ce type de réaction nucléaires induites par des neutrons nécessite une énergie incidente de seuil pour ce produire. Pour la réaction (n, 2n) cette énergie est environ 10 MeV
Dans cette étude on proposé une formule empirique pour le calcul rapide et fiable de la section efficace de la réaction (n, 2n) à une énergie des neutrons incidents de 14,5MeV.
Cette formule empirique proposée pour le calcul de la section efficace de la réaction (n, 2n) pour des énergie des neutrons incidents de 14,5MeV a un meilleur accord avec la plus part des formules empiriques présentées et accord le mieux avec les résultats expérimentales; en outre elle nous permet d’estimer rapidement et avec précision, relativement bonne, la valeur de la section efficace.
Côte titre : MAPH/0171 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1d87sAhIPpcpmfljS-SgHLYVV6dKPuSxF/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : docx Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité MAPH/0171 MAPH/0171 Mémoire Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleÉlaboration et investigations de propriétés physiques de couches minces ferromagnétiques de Fe100-xPdx / Benhamoud,Ahlam
Titre : Élaboration et investigations de propriétés physiques de couches minces ferromagnétiques de Fe100-xPdx Type de document : texte imprimé Auteurs : Benhamoud,Ahlam, Auteur ; Kharmouche,Ahmed, Directeur de thèse Editeur : Setif:UFA Année de publication : 2020 Importance : 1 vol (116 f .) Format : 29 cm Langues : Français (fre) Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : FePd
Couches mincesIndex. décimale : 530 Physique Résumé :
Dans ce travail de thèse, nous avons étudié les propriétés structurales et magnétiques des
couches minces Fe100-xPdx d’épaisseur 150 nm évaporées sous vide sur deux substrats de
silicium monocristallin Si(100) et Si(111). Les compositions chimiques des éléments ont été
identifiées à l’aide d’un microscope électronique à balayage SEM équipé d'un analyseur
EDX. Les valeurs de la concentration atomique de Pd sont confinées entre 18 et 34%. L’étude
structurale par DRX montre que les films Fe100-xPdx/Si(100) sont polycristallins et ont une
structure cubique à faces centrées (c.f.c) et les films Fe100-xPdx /Si(111) sont amorphes. Le
paramètre de maille augmente avec l’augmentation de la teneur en Pd. La taille des grains des
échantillons déposés sur Si(100) est confinée entre 85 et 100 nm. Par ailleurs, la microscopie
AFM révèle des images topographiques de surfaces lisses et rugueuses; les valeurs de
rugosité sont confinées entre 0.8 et 1.9 nm pour les films déposées sur Si(100) et varient entre
1.4 et 8.1nm pour les films déposés sur Si(111). L’étude magnétique a été réalisée à l’aide
d’un magnétomètre à échantillon vibrant (VSM). Les courbes d’aimantation montrent que les
films sont ferromagnétiques, l’axe de facile aimantation est dans le plan des films, avec une
absence totale d’anisotrope planaire. Les valeurs de l'aimantation à saturation varient entre
1130 et 1356 e.m.u./cm3 pour les échantillons Fe100-xPdx /Si(100), et entre 1133 et 1350
e.m.u./cm3 pour Fe100-xPdx /Si(111) et diminuent avec l’augmentation de la teneur en Pd.Côte titre : DPH/0238 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1hwPwtJcSj6DT41cAKGz2qXmjD-tUboYT/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : Élaboration et investigations de propriétés physiques de couches minces ferromagnétiques de Fe100-xPdx [texte imprimé] / Benhamoud,Ahlam, Auteur ; Kharmouche,Ahmed, Directeur de thèse . - [S.l.] : Setif:UFA, 2020 . - 1 vol (116 f .) ; 29 cm.
Langues : Français (fre)
Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : FePd
Couches mincesIndex. décimale : 530 Physique Résumé :
Dans ce travail de thèse, nous avons étudié les propriétés structurales et magnétiques des
couches minces Fe100-xPdx d’épaisseur 150 nm évaporées sous vide sur deux substrats de
silicium monocristallin Si(100) et Si(111). Les compositions chimiques des éléments ont été
identifiées à l’aide d’un microscope électronique à balayage SEM équipé d'un analyseur
EDX. Les valeurs de la concentration atomique de Pd sont confinées entre 18 et 34%. L’étude
structurale par DRX montre que les films Fe100-xPdx/Si(100) sont polycristallins et ont une
structure cubique à faces centrées (c.f.c) et les films Fe100-xPdx /Si(111) sont amorphes. Le
paramètre de maille augmente avec l’augmentation de la teneur en Pd. La taille des grains des
échantillons déposés sur Si(100) est confinée entre 85 et 100 nm. Par ailleurs, la microscopie
AFM révèle des images topographiques de surfaces lisses et rugueuses; les valeurs de
rugosité sont confinées entre 0.8 et 1.9 nm pour les films déposées sur Si(100) et varient entre
1.4 et 8.1nm pour les films déposés sur Si(111). L’étude magnétique a été réalisée à l’aide
d’un magnétomètre à échantillon vibrant (VSM). Les courbes d’aimantation montrent que les
films sont ferromagnétiques, l’axe de facile aimantation est dans le plan des films, avec une
absence totale d’anisotrope planaire. Les valeurs de l'aimantation à saturation varient entre
1130 et 1356 e.m.u./cm3 pour les échantillons Fe100-xPdx /Si(100), et entre 1133 et 1350
e.m.u./cm3 pour Fe100-xPdx /Si(111) et diminuent avec l’augmentation de la teneur en Pd.Côte titre : DPH/0238 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1hwPwtJcSj6DT41cAKGz2qXmjD-tUboYT/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité DPH/0238 DPH/0238 Thèse Bibliothéque des sciences Français Disponible
DisponibleElaboration des jonctions nanométriques à base d’une pérovskite et étude optique des polarisations électriques p-n et n-p pour l’environnement / Anfal Djelloul
PermalinkÉlaboration de nanofils de silicium par gravure chimique assistée par un métal : caractérisation etapplication en photocatalyse hétérogène de l’oxyde de graphène, du chrome (VI) et de la rhodamine B / Ouarda Fellahi
PermalinkElaboration des nanopoudres de ZnO par des méthodes bottom-up / Abdel Ghafour Said Messalti
PermalinkElaboration par électrodéposition et caractérisation de couches minces de l'alliage Fe-Co / BEDOUI, Abdelaziz
PermalinkElaboration par Procédé Sol-Gel et caractérisation des couches minces Ferrites Fe2O3:Discussion de la possibilité de la transition de phase Ferrite Fe2O3 au Magnétite Fe3O4 / Sabrina Abdelli
PermalinkElectricité, mécanique, thermodynamique, électromagnétisme, 2e partie. Physique / Jean-Pierre Dubarry-Barbe
PermalinkElectrodéposition des couches minces de ZnO pures et dopées par des ions bismuth et étude de leurs propriétées physiques, optiques et électriques. / Benkolli, Abdelmalek
PermalinkElectrodéposition des couches minces de ZnO pures et dopées par des ions étain et étude de leurs propriétées physiques, optiques et électriques / Herbaji Mohamed ,Amine
PermalinkElectrodynamique des milieux continus tome 8 / L. Landau
PermalinkElectromagnetic Theory / Julius Adams Stratton
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