University Sétif 1 FERHAT ABBAS Faculty of Sciences
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Effet d’un recuit RTP sur la dégradation des propriétés électriques sous éclairement (LID)des couche barrière de nitrure de silicium SiNX [texte imprimé] / Warda Hetatache ; Yacine Kouhlane, Directeur de thèse . - [S.l.] : Setif:UFA, 2015/2016 . - 1 vol (40f.).
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Exemplaires (1)
Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
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MAPH/0155 | MAPH/0155 | Mémoire | Bibliothéque des sciences | Français | Disponible Disponible |