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Propriétés structurales, morphologiques et électriques des couches minces Fe85/ITO par l’électrodéposition / Soumia Khermache
Titre : Propriétés structurales, morphologiques et électriques des couches minces Fe85/ITO par l’électrodéposition Type de document : texte imprimé Auteurs : Soumia Khermache ; Djellal Cherrad, Directeur de thèse Editeur : Setif:UFA Année de publication : 2016 Importance : 1 vol (43 f.) Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : films minces, alliage NiFe, diffraction des rayons X, propriétés électriques,Ingénierie des Matériaux Index. décimale : 530 Physique Résumé : Résumé
Les séries des films Fe85Ni15 ont été cultivées sur le dopé d'étain à l'oxyde d'indium (ITO) revêtues des substrats en verre par la technique d’électrodeposition. Les échantillons ont été réalisés en utilisant différents potentiels chimiques et des différents temps de dépôt, t. Les propriétés structurales et la morphologie de surface ont été étudiées par la diffraction des rayons X (XRD), un microscope à balayage électronique (MEB) couplé avec EDX (Energie dispersive X-ray) et une profilométrie de surface. Les propriétés électriques ont été déduites à partir des mesures l’effet Hall. La texture, le paramètre de maille, la taille des grains, l’épaisseur, la rugosité de la surface, la résistance carrée et la résistivité électrique ont été étudiés. Pour différents des potentiels, la texture <110> ne change pas, Comme le temps de dépôt t augmente, on observe un changement de texture de <110> à <211> .Ce changement affecte fortement la taille des grains, les comportements de rugosité de surface et les propriétés électriques. Ces différents résultats expérimentaux seront discutés et corrélésCôte titre : MAPH/0146 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1U58JpqmbXkh4Xcl_CAMo5M5Nt3lnD56N/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : Propriétés structurales, morphologiques et électriques des couches minces Fe85/ITO par l’électrodéposition [texte imprimé] / Soumia Khermache ; Djellal Cherrad, Directeur de thèse . - [S.l.] : Setif:UFA, 2016 . - 1 vol (43 f.).
Catégories : Thèses & Mémoires:Physique Mots-clés : films minces, alliage NiFe, diffraction des rayons X, propriétés électriques,Ingénierie des Matériaux Index. décimale : 530 Physique Résumé : Résumé
Les séries des films Fe85Ni15 ont été cultivées sur le dopé d'étain à l'oxyde d'indium (ITO) revêtues des substrats en verre par la technique d’électrodeposition. Les échantillons ont été réalisés en utilisant différents potentiels chimiques et des différents temps de dépôt, t. Les propriétés structurales et la morphologie de surface ont été étudiées par la diffraction des rayons X (XRD), un microscope à balayage électronique (MEB) couplé avec EDX (Energie dispersive X-ray) et une profilométrie de surface. Les propriétés électriques ont été déduites à partir des mesures l’effet Hall. La texture, le paramètre de maille, la taille des grains, l’épaisseur, la rugosité de la surface, la résistance carrée et la résistivité électrique ont été étudiés. Pour différents des potentiels, la texture <110> ne change pas, Comme le temps de dépôt t augmente, on observe un changement de texture de <110> à <211> .Ce changement affecte fortement la taille des grains, les comportements de rugosité de surface et les propriétés électriques. Ces différents résultats expérimentaux seront discutés et corrélésCôte titre : MAPH/0146 En ligne : https://drive.google.com/file/d/1U58JpqmbXkh4Xcl_CAMo5M5Nt3lnD56N/view?usp=shari [...] Format de la ressource électronique : Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité MAPH/0146 MAPH/0146 Mémoire Bibliothéque des sciences Français Disponible
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