Prêtable
| Titre : | Traité des matériaux Vol 3: Caractérisation expérimentale des matériaux Tome2 : Analyse par rayons X, électrons et neutrons |
| Auteurs : | Jean-Luc Martin ; Amand George |
| Type de document : | texte imprimé |
| Mention d'édition : | 1ère éd. |
| Editeur : | Lausanne [Suisse] : Presses Polytechniques et Universitaires Romandes, 1998 |
| Collection : | Traité des matériaux, num. Volume 3 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-88074-364-2 |
| Format : | XVI-367 p. / couv. ill. en coul. / 24 cm. |
| Langues: | Français |
| Langues originales: | Français |
| Index. décimale : | 620.112 99 (Propriétés microphysiques (Microstructure)) |
| Catégories : | |
| Mots-clés: | Microanalyse par émission X ; Faisceaux électroniques ; Faisceaux de neutrons ; rayons X ; électrons ; neutrons |
| Résumé : |
Cet ouvrage offre une introduction aux principales techniques de caractérisation structurale et microstructurale des matériaux. Tout en abordant les questions d'analyse chimique élémentaire, le livre met l'accent sur l'étude des microstructures aux échelles allant des distances interatomiques (structures cristallines) à quelques micromètres. Les auteurs décrivent l'origine des interactions rayonnement-matière et leurs principales manifestations, en privilégiant les phénomènes de diffraction dans la matière cristallisée et les méthodes d'imagerie des défauts. L'accent est mis sur les développements récents qu'ont connus les trois classes de technique abordées : nouvelles sources de rayonnement optimisées, microélectronique et techniques informatiques.
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| Note de contenu : |
Sommaire :
Chapitre 1: Physique des interactions rayonnement-matière Chapitre 2: Généralités sur les interactions rayonnement-matière Chapitre 3: Diffusion cohérente des rayonnements par les cristaux Chapitre 4: Propagation d'ondes dans les cristaux Chapitre 5: Caractérisation des matériaux par rayon X Chapitre 6: Sources de rayons X, conditionnement et analyse des rayons X Chapitre 7: Méthodes de caractérisation structurale par diffusion et diffraction des rayons X Chapitre 8: Topographie aux rayons X Chapitre 9: Caractérisation des matériaux par faisceau d'électrons Chapitre 10: Microscope électronique à transmission Chapitre 11: Informations fournies par le microscope électronique à transmission Chapitre 12: Microscope électronique à balayage Chapitre 13: Microanalyse par faisceaux d'électrons Chapitre 14: Caractérisation des matériaux par faisceaux de neutrons Chapitre 15: Diffusion et diffraction des neutrons Chapitre 16: Exemple de caractérisation de matériaux par rayon X Chapitre 17: Etude de la microstructure d'un revêtement réalisé par projection thermique Chapitre 18: Distribution de DIRAC, produit de convultion, série de fourier, transformation de fourier |
Exemplaires (8)
| Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|
| F8/1809 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
| F8/1964 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
| F8/1965 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
| F8/1966 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
| G8/204 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
| G8/205 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
| G8/206 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
| G8/374 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
