Prêtable
| Titre : | Métallographie et techniques d'analyse |
| Auteurs : | Association Technique de Traitement Thermique (A.T.T.T.) |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Paris [France] : Dunod, 2004 |
| Collection : | Technique et ingénierie (Série : matériaux) |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-10-048442-3 |
| Format : | X-174 p. / ill.; couv. ill. en coul. / 25 cm. |
| Langues: | Français |
| Langues originales: | Français |
| Index. décimale : | 620.11 (Matériaux de l'ingénieur (corrosion, déformation mécanique ; ouvrages généraux sur les matériaux composites, organiques, poreux ; propriétés, résistance)) |
| Catégories : | |
| Mots-clés: | Spectrométrie ; Spectroscopie ; Microscopie électronique ; Technique optique ; Diffraction des rayons X |
| Résumé : |
"Cet ouvrage décrit en détail les techniques d'analyse des matériaux existantes :
techniques optiques (macro- et micrographie) ; microscopie électronique (à balayage et à transmission) ; spectroscopie (de photoélectrons X et d'électrons Auger) ; diffraction des rayons X ; spectrométrie à décharge luminescente (SDL). Pour chacune de ces techniques, il fournit des informations sur : les principes physiques ; les domaines d'application, les avantages et les limites ; la préparation des échantillons ; les précautions à prendre pour éviter les artefacts, sources de nombreuses erreurs d'interprétation ; des exemples d'applications. Un outil de travail unique et indispensable pour tous les professionnels des laboratoires industriels et de recherche qui travaillent sur les matériaux." |
| Note de contenu : |
Sommaire :
Chapitre 1: Notions de structure Chapitre 2: Rappels d'optique Chapitre 3: La macrographie Chapitre 4: La micrographie Chapitre 5: Généralités sur les faisceaux Chapitre 6: Le microscope électronique à balayage Chapitre 7: Le microscope électronique à transmission Chapitre 8: Spectroscopie de photoélectrons X Chapitre 9: Spectroscopie d'électrons Auger Chapitre 10: Application de la diffraction des rayons X à la métallurgie Chapitre 11: La spectrométrie à décharge luminescente (SDL) : principes et applications |
Exemplaires (4)
| Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|
| F4/124 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
| F4/158 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
| F4/159 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
| F4/160 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
