| Titre : | Diffraction des rayonnements : introduction aux concepts et méthodes |
| Auteurs : | J. Protas ; Hubert Curien |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Malakoff : Dunod, 1999 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-10-004144-2 |
| Format : | 1 vol. (308 p.) / ill. / 26 cm |
| Langues originales: | |
| Index. décimale : | 535.42 (Diffraction de la lumière) |
| Mots-clés: | Diffraction : Manuels d'enseignement supérieur |
| Résumé : |
Cet ouvrage s'adresse aux étudiants de deuxième et troisième cycles de physique du solide, chimie du solide et sciences des matériaux, aux élèves des écoles d'ingénieurs, ainsi qu'aux chercheurs de ces disciplines. Dans le vaste domaine de la cristallographie, la diffraction des rayonnements par les cristaux occupe une place importante. Cet ouvrage rassemble les bases et les acquis des dernières décennies qui ont contribué à son spectaculaire développement dans la résolution des structures cristallines, l'analyse fine des propriétés physico-chimiques des matériaux cristallins à l'échelle atomique et la conquête du monde de la biologie. A mi-chemin entre théorie et applications, il privilégie la compréhension des phénomènes liés aux applications de la diffraction par les cristaux de manière à en exposer les bases aussi simplement que possible. De nombreuses démonstrations accompagnent l'exposé des concepts fondamentaux. |
| Note de contenu : |
Sommaire: Production, mécanismes d'émission et détection des rayons x. Mesures des intensités diffractées. Interaction des rayons x avec la matière. Théorie géométrique de la diffraction des rayons x par les substances cristallines et techniques de mise en œuvre. Théorie physique de la diffraction des rayons x par les cristaux. Diffraction par les solides imparfaits : cristaux et solides amorphes. Transformée de fourier du facteur de structure. Densité électronique. Notions de sur la détermination des structures cristallines par diffraction x. Diffraction des électrons. Diffraction des neutrons par les cristaux. Aperçu sur les apports récents de la diffraction x à l'étude de la densité électronique précise dans les matériaux. |
| Côte titre : |
S8/52571-52573 * S8/57669-57670 |
Exemplaires (5)
| Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
|---|---|---|---|
| S8/52571 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/52572 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/52573 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/57669 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/57670 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
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