| Titre : | Guide de préparation des échantillons pour la microscopie électronique en transmission T.1 : méthodologie |
| contenu dans : | |
| Auteurs : | Jeanne Ayache ; Luc Beaunier ; Jacqueline Boumendil |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Saint-Etienne : Publication de l'université de Saint-Etienne, 2007 |
| Collection : | Intégration |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-86272-441-6 |
| Format : | 1 vol. (270 p.) / ill., couv. ill. / 24 cm |
| Note générale : | Lexique |
| Langues originales: | |
| Index. décimale : | 502.825 (Microscopes électroniques) |
| Catégories : | |
| Mots-clés: | Microscopie électronique en transmission |
| Résumé : |
Cet Ouvrage s'adresse à une large communauté scientifique qui utilise la microscopie électronique en transmission (TEM) pour analyser la structure de tout type de matériaux de la Physique à la Biologie. Il est constitué de deux livres : Tome 1 " Méthodologie " et Tome II Techniques. Le Tome I propose la méthodologie nécessaire pour aborder la préparation d'un échantillon pour la microscopie. II Apporte en particulier la démarche à suivre qui tient compte du problème matériau posé, du type de matériau, de sa structure et de ses propriétés, pour choisir la meilleur technique. II apporte les outils pour la préparation et l'observation des échantillons. II comportera des renseignements généraux sur les propriétés physiques, la classification des différents types de matériaux, de microstructures et sur les mécanismes physiques et chimiques impliqués dans les différents types de techniques. II permet, en particulier, d'identifier les artéfacts observés au microscope qui sont créés par les effets des différentes étapes de préparations (techniques ioniques, mécaniques ou chimiques). II présente les différents types d'analyses et les modes d'observation en TEM et aussi des analyses comparatives entre les techniques de préparation pour différents types de matériaux : des résultats comparatifs obtenus sur un même matériau, préparé par différentes techniques, permettent de comprendre les choix amenant à la décision finale. Enfin, il discute des possibilités de combiner plusieurs techniques pour résoudre des problèmes complexes de préparation et obtenir des lames minces analysables en TEM. |
| Note de contenu : |
Sommaire - Introduction aux matériaux - Les Différents modes d'observations en microscopie électronique (SEM, TEM, STEM) - Problématique matériau et analyses en TEM et TEM/STEM - Mécanismes physiques et chimiques des techniques de préparation - Artéfacts en microscopie électronique e transmission - Choix de la technique de préparation en fonction de la problématique matériau et des analyses TEM - Comparaisons entre techniques |
| Côte titre : | S8/72743-72746 |
Exemplaires (4)
| Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
|---|---|---|---|
| S8/72743 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/72744 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/72745 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/72746 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
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