| Titre : | Etude des propriétés physiques des couches minces de Fe/Al, Fe/Si(100) et Fe/Verre déposées par évaporation |
| Auteurs : | Mourad Mébarki ; A. Layadi, Directeur de thèse |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Sétif : Université Ferhat Abbas faculté des sciences département de physique, 2010 |
| ISBN/ISSN/EAN : | TS4/7969 |
| Format : | 1 vol. (VI-78 f.) / ill. |
| Note générale : | Bibliogr.Tableaux |
| Langues: | Français |
| Catégories : | |
| Note de contenu : |
Sommaire : -Table des tableaux -Table des figures -Introduction générale 1- Élaboration des échantillons de Fe ´ 1.1 Introduction 1.2 Nettoyage des substrats 1.2.1 Nettoyage ex situ . 1.2.2 Pr´eparation des substrats de Verre et de Si(100) . 1.2.3 Nettoyage de l’enceinte de l’´evaporateur . . . . . . 1.2.4 Nettoyage des substrats de Al 1.3 Technique de dépot sous vide . . . . . . . . . . . . . . . . . 1.3.1 généralités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1.3.2 L’évaporation 1.4 Évaporateur MECA 2000 ´ . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1.4.1 Caractéristiques générales : . . . . . . . . . . . . . . 1.4.2 Spécifications techniques : . . . . . . . . . . . . . . . 1.4.3 Options : 1.4.4 Enceinte d’évaporateur . . . . . . . . . . . . . . . . . 1.4.5 Groupe de pompage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1.4.6 Mesure de la pression . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2- Table des matières 2 Etude des propri´et´es structurales 2.1 Introduction 2.2 La spectrométrie par rétrodiffusion de Rutherford (Analyse physico-chimique) . . . . . . . . . . . . . . . . 2.2.1 Etude th´eorique ´ . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2.2.2 Dispositif Exp´erimental . . . . . . . . . . . . . . . . 2.2.3 Simulation des spectres RBS . . . . . . . . . . . . . 2.2.4 R´esultats et discussion . . . . . . . . . . . . . . . . . 2.3 Analyse structurale(La diffraction des rayons X) . . . . . . 2.3.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2.3.2 Etude th´eorique ´ . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2.3.3 Diffraction des rayons X : (m´ethode exp´erimentale) 2.3.4 Diffractom`etre `a rayons X . . . . . . . . . . . . . . . 2.3.5 Résultats et discussions 2.4 Morphologie des couches minces : Utilisation d’un microscope électronique `a balayage (MEB) 2.4.1 Les diff´erents types d’interaction ´electron-mati`ere[23] 2.4.2 Principe g´en´eral d’un microscope ´electronique `a balayage (MEB) . . . . . . 2.4.3 Principales contraintes li´ees `a l’observation en MEB 2.4.4 Résultats et discussions . . . . . . . . . . . . . . . . 2.5 Conclusion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3 Etudes des propriétés électriques ´ 3.1 Introduction 3.2 Dispositif de mesure de la résistance carrée . . . . . . . . . 3.3 Mesure de la résistance électrique . . . . . . . . . . . . . . . 3.4 La loi de Mathiessen 3.5 Résultats et discussion 3.5.1 Etude de la r´esistance carr´ee en fonction de l’´epaisseur ´ 3.5.2 Etude de la r´esistivit´e en fonction de l’´epaisseur ´ . . 3.6 Effet de taille 3.6.1 Introduction 3.6.2 Diffusion des ´electrons `a la surface . . . . . . . . . . 3.6.3 Diffusion des ´electrons aux joints de grains . . . . . 3.7 Conclusion -Conclusion générale -Bibliographie |
Exemplaires (1)
| Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
|---|---|---|---|
| TS4/7969 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
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