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Les Mal-constructions d’un circuit au delà des variations du process sont appelées Défauts et l’effet des défauts sur les caractéristiques électriques d’un circuit intégré déviant au delà des valeurs spécifiées est appelé Faute. En d’autres te[...]
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E-TH/0128 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
Les mal-constructions d’un circuit au delà des variations du process sont appelées Défauts et l’effet des défauts sur les caractéristiques électriques d’un circuit intégré déviant au delà des valeurs spécifiées est appelé Faute. En d’autres te[...]
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TS4/7468 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
Cette thèse porte sur l’application de nouvelles techniques au diagnostic, la détection et la classification des défauts dans les circuits intégrés analogiques, qui peuvent tomber en panne et se dégradent pendant la durée de fonctionnement. Ce[...]
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TS4/8784 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
Cette thèse porte sur l’application de nouvelles techniques au diagnostic, la détection et la classification des défauts dans les circuits intégrés analogiques, qui peuvent tomber en panne et se dégradent pendant la durée de fonctionnement. Ce[...]
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E-TH/1660 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
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