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L’analyse de surface des solides : Par spectroscopies électroniques et ioniques avec problèmes résolus / J Grimblot
Titre : L’analyse de surface des solides : Par spectroscopies électroniques et ioniques avec problèmes résolus Type de document : texte imprimé Auteurs : J Grimblot, Auteur Editeur : Paris : Masson Année de publication : 1995 Importance : 1 vol (216 p.) Format : 24 cm Langues : Français (fre) Catégories : Physique Mots-clés : Physique Index. décimale : 530 Physique Résumé :
De nombreux phénomènes interviennent à la surface des solides : usure, vieillissement, corrosion, contamination, adsorptions moléculaires, ségrégation d'espèces ou de phases liées à la diffusion. Les modifications induites peuvent altérer les propriétés des solides eux-mêmes. Il est donc important de pouvoir caractériser leur surface et suivre l'évolution des modifications provoquées par diverses interactions chimiques. Ce cours présente les principales méthodes d'analyse de surface des solides, sur des profondeurs variant d'une couche atomique à quelques nanomètres. L'ouvrage décrit les principes de base des méthodes d'analyse spectroscopique : excitation des éléments du matériau-cible par des électrons, des ions ou des rayons X, analyse énergétique des électrons émis, des particules rétrodiffusées et, s'il s'agit d'ions, détermination de la masse. Les principales techniques sont abordées : spectroscopie des photoélectrons induits par rayons X (XPS ou ESCA), spectroscopie des électrons Auger (AIES), spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS), spectroscopie des ions rétrodiffusés (ISS). Seules ou combinées, ces techniques fournissent des informations précises sur les éléments présents en surface, sur leur concentration et leur environnement local. Les méthodes d'analyse décrites s'appliquent à une grande variété de solides : métaux, alliages, composés naturels, oxydes, chlorures, verres, céramiques, polymères, catalyseurs... Une série de problèmes corrigés, issus de cas réels, sont proposés afin que le lecteur puisse se familiariser avec la réalité, parfois complexe, de la caractérisation de la surface des solides. De nombreux spectres et tableaux facilitent l'interprétation des résultats expérimentaux. Cet ouvrage intéressera les élèves-ingénieurs ainsi que les étudiants en 2e et 3e cycles, en spectroscopie, en chimie et physique des solides et en sciences des matériaux.Note de contenu :
Sommaire
Abréviations, définitions, symboles et unités
La spectroscopie de photoélectrons induits par rayons X
Les spectroscopies Auger : AES et XAES
La spectrométrie de masse d'ions secondaires : SIMS
La spectroscopie d'ions rétrodiffusés : ISS
Applications choisies
Sélection de problèmesCôte titre : Fs/24400 L’analyse de surface des solides : Par spectroscopies électroniques et ioniques avec problèmes résolus [texte imprimé] / J Grimblot, Auteur . - Paris : Masson, 1995 . - 1 vol (216 p.) ; 24 cm.
Langues : Français (fre)
Catégories : Physique Mots-clés : Physique Index. décimale : 530 Physique Résumé :
De nombreux phénomènes interviennent à la surface des solides : usure, vieillissement, corrosion, contamination, adsorptions moléculaires, ségrégation d'espèces ou de phases liées à la diffusion. Les modifications induites peuvent altérer les propriétés des solides eux-mêmes. Il est donc important de pouvoir caractériser leur surface et suivre l'évolution des modifications provoquées par diverses interactions chimiques. Ce cours présente les principales méthodes d'analyse de surface des solides, sur des profondeurs variant d'une couche atomique à quelques nanomètres. L'ouvrage décrit les principes de base des méthodes d'analyse spectroscopique : excitation des éléments du matériau-cible par des électrons, des ions ou des rayons X, analyse énergétique des électrons émis, des particules rétrodiffusées et, s'il s'agit d'ions, détermination de la masse. Les principales techniques sont abordées : spectroscopie des photoélectrons induits par rayons X (XPS ou ESCA), spectroscopie des électrons Auger (AIES), spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS), spectroscopie des ions rétrodiffusés (ISS). Seules ou combinées, ces techniques fournissent des informations précises sur les éléments présents en surface, sur leur concentration et leur environnement local. Les méthodes d'analyse décrites s'appliquent à une grande variété de solides : métaux, alliages, composés naturels, oxydes, chlorures, verres, céramiques, polymères, catalyseurs... Une série de problèmes corrigés, issus de cas réels, sont proposés afin que le lecteur puisse se familiariser avec la réalité, parfois complexe, de la caractérisation de la surface des solides. De nombreux spectres et tableaux facilitent l'interprétation des résultats expérimentaux. Cet ouvrage intéressera les élèves-ingénieurs ainsi que les étudiants en 2e et 3e cycles, en spectroscopie, en chimie et physique des solides et en sciences des matériaux.Note de contenu :
Sommaire
Abréviations, définitions, symboles et unités
La spectroscopie de photoélectrons induits par rayons X
Les spectroscopies Auger : AES et XAES
La spectrométrie de masse d'ions secondaires : SIMS
La spectroscopie d'ions rétrodiffusés : ISS
Applications choisies
Sélection de problèmesCôte titre : Fs/24400 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Fs/24400 Fs/24400 livre Bibliothéque des sciences Français Disponible
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