| Titre : | Caractérisation expérimentale des matériaux T.3 : Analyse par rayons X électrons et neutrons |
| Auteurs : | Jean-Luc Martin, Auteur ; Armand George, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Lausanne : P.P.U.R, 1998 |
| Collection : | Traité des matériaux |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-88074-364-2 |
| Format : | 1 vol. (XVI-367 p.) / ill. / 24 cm |
| Note générale : | Index |
| Langues originales: | |
| Index. décimale : | 620.112 (Essais non destructifs et propriétés des matériaux) |
| Catégories : | |
| Mots-clés: | Matière : Structure Microanalyse par émission X Faisceaux électroniques Faisceaux de neutrons |
| Résumé : |
Cet Ouvrage offre une introduction aux principales techniques de caractérisation structurale et microstructurale des matériaux. Tout en abordant les questions d'analyse chimique élémentaire, le livre met l'accent sur l'étude des microstructures aux échelles allant des distances interatomiques (structures cristallines) à quelques micromètres. Les auteurs décrivent l'origine des interactions rayonnement-matière et leurs principales manifestations, en privilégiant les phénomènes de diffraction dans la matière cristallisée et les méthodes d'imagerie des défauts. L'accent est mis sur les développements récents qu'ont connus les trois classes de technique abordées : nouvelles sources de rayonnement optimisées, microélectronique et techniques informatiques. |
| Note de contenu : |
Sommaire: o Physique des interactions rayonnement-matière. o Généralités sur les interactions rayonnement-matière. o Diffusion cohérente des rayonnements par les cristaux. o Propagation d'ondes dans les cristaux. o Caractérisation des matériaux par rayon X. o sources de rayons X, conditionnement et analyse des rayons X. o Méthodes de caractérisation structurale par diffusion et diffraction des rayons X. o Topographie aux rayons X. o Caractérisation des matériaux par faisceau d'électrons. o Microscope électronique à transmission. o Informations fournies par le microscope électronique à transmission. o Microscope électronique à balayage. o Microanalyse par faisceaux d'électrons. o Caractérisation des matériaux par faisceaux de neutrons. o Diffusion et diffraction des neutrons. o Exemple de caractérisation de matériaux par rayon X. o etude de la microstructure d'un revêtement réalisé par projection thermique. o Distribution de DIRAC, produit de convultion, série de fourier, transformation de fourier. |
| Côte titre : |
S8/55589-55591 *S8/59537-59538 *S8/66281 |
Exemplaires (9)
| Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
|---|---|---|---|
| S8/55589 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/55590 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/55591 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/59537 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/59538 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/65108 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/65109 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/65110 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/66281 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
Accueil
