Titre : | Transmission electron microscopy and diffractometry of materials |
Auteurs : | Brent Fultz ; J. M. Howe |
Type de document : | texte imprimé |
Mention d'édition : | 2e éd |
Editeur : | Berlin : Springer-Verlag, 2002 |
Collection : | Physics and Astronomy online library |
ISBN/ISSN/EAN : | S8/59802-59803 |
Format : | XXI-748 p / ill., couv. ill. / 24 cm |
Note générale : | 3-540-43764-9 |
Langues originales: | |
Index. décimale : | 621 (Physique appliquée) |
Mots-clés: | Microscope électronique- Electron(transmission d')- Diffractométrie des matériaux |
Exemplaires (2)
Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
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S8/59802 | كتاب | Bibliothèque centrale | Disponible |
S8/59803 | كتاب | Bibliothèque centrale | Disponible |
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