| Titre : | Microscopie électronique à balayage et microanalyses |
| Auteurs : | Groupement national de microscopie électronique à balayage et de microanalyses (Paris) ; François Brisset |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Paris [France] : EDP sciences, 2008 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-7598-0082-7 |
| Format : | 1 vol. (XXXVI-892 p.) / ill. en noir et en coul. / 25 cm |
| Note générale : | Index |
| Langues originales: | |
| Index. décimale : | 502.825 (Microscopes électroniques) |
| Catégories : | |
| Mots-clés: | Microscopes électroniques à balayage Microscopie électronique : Technique Microstructure (physique) : Analyse |
| Résumé : |
Microscopie électronique à balayage et Microanalyses Publication du Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôle sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. |
| Côte titre : |
S8/74796-74799 |
Exemplaires (8)
| Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
|---|---|---|---|
| S8/74796 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/74797 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/74798 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/74799 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/76267 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/76268 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/76269 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/76270 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
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