| Titre : | Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique |
| Auteurs : | Claude Esnouf |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Lausanne : P.P.U.R, 2011 |
| Collection : | Metis LyonTech |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-88074-884-5 |
| Format : | 1 vol. (XVI-579 p.) / ill., couv. ill. en coul. / 24 cm |
| Note générale : | Annexe. Index |
| Langues originales: | |
| Index. décimale : | 620.11 (Matériaux) |
| Catégories : | |
| Mots-clés: | Microstructure (physique) Rayons X Cristallographie |
| Résumé : |
Cet Ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en œuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. |
| Note de contenu : |
Sommaire - Avant-propos - Introduction - Eléments de cristallographie. - Diffraction par les cristaux. - Radiocristallographie X. - Diffraction par les rayonnements corpusculaires. - Imagerie électronique. - Spectroscopies x et électronique. - Réseaux et groupes à deux dimensions. - Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson. - Coefficient de Debye-Waller. - Rappels sur la structure électronique d'un atome. - Optique diffractive: réseaux zonés et lentille de Fresnel. - Facteur de forme et géométrie du cristal. - Relation facteur de diffusion électronique et potentiel. - Facteur de diffusion électronique dans le modèle de Wentzel-Yukawa. - Correcteurs d'aberrations. - Compléments à l'imagerie de haute résolution. - Règle d'or de fermi et sections efficaces de pertes. - Exercices et leurs solutions liste des symboles. - Liste des acronymes. - Définitions et valeurs de quelques grandeurs physiques. |
| Côte titre : |
S8/77818-77821 *S8/78735-78737 |
Exemplaires (7)
| Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
|---|---|---|---|
| S8/77818 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/77819 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/77820 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/77821 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/78735 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/78736 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| S8/78737 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
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