Titre : | Les Systèmes mécatroniques embarqués T.1 : analyse des causes de défaillances fiabilité et contraintes |
contenu dans : | |
Auteurs : | Abdelkhalak El Hami, Directeur de publication, rédacteur en chef ; Philippe Pougnet, Directeur de publication, rédacteur en chef |
Type de document : | texte imprimé |
Editeur : | London : ISTE éditions, 2015 |
Collection : | Collection Génie mécanique et mécanique des solides |
ISBN/ISSN/EAN : | 978-1-78405-057-3 |
Format : | 1 vol. (233 p.) / ill. / 24 cm |
Note générale : | Bibliogr. p. 229-230. Index |
Langues: | Français |
Index. décimale : | 621.381 (Electronique) |
Catégories : | |
Mots-clés: | Mécatronique : fiabilité Systèmes enfouis (informatique) Électronique |
Résumé : |
La Mécatronique associe l'informatique, la mécanique et l'électronique. Elle améliore les performances des systèmes électroniques embarqués en réduisant leurs poids, leurs volumes, leurs consommations d'énergie et leurs coûts.Les Equipements mécatroniques doivent fonctionner sans défaillance pendant des durées de service de plus en plus longues. Les conditions d'emploi particulièrement sévères de la mécatronique embarquée font apparaître des mécanismes de défaillance qui sont sources de pannes. Jusqu'à maintenant ces phénomènes de défaillance n'ont pas été abordés suffisamment en profondeur pour être maîtrisés.Cet Ouvrage présente deux méthodologies : l'approche statistique d'optimisation de la conception par la fiabilité et l'approche expérimentale pour la caractérisation de l'évolution des systèmes mécatroniques en mode de fonctionnement. Il analyse également les nouveaux outils d'analyse des effets des contraintes d'origine thermique, vibratoire, humide, électrique et électromagnétique . |
Côte titre : |
S8/82414-82417 |
Exemplaires (4)
Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
---|---|---|---|
S8/82414 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
S8/82415 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
S8/82416 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
S8/82417 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
Accueil