| Titre : | Développement des techniques de test pour des circuits analogiques intégrés de type S.S.I. |
| Auteurs : | Nacereddine Bourouba ; Nacerdine Bouzit, Directeur de thèse |
| Type de document : | document électronique |
| Editeur : | Sétif : Université Ferhat Abbas faculté de technologie département d’électronique, 2007 |
| ISBN/ISSN/EAN : | E-TH/0136 |
| Format : | 1 vol. (194 f.) / ill. |
| Note générale : | Bibliogr.Annexes |
| Langues: | Français |
| Catégories : | |
| Résumé : |
L’évolution de la technologie des circuits intégrés a permis une intégration hautement élevée en nombre de transistors sur une puce de silicium aussi petite qu’elle soit. Les composants constituent ensemble des circuits numériques ou analogiques. Seulement le premier type de circuit est très complexe et occupe presque la totalité de la surface. Les circuits analogiques, quoique moins complexes,sont devenus de plus en plus nécessaires dans le monde de l’électronique. Cette nécessité est due à l’importance dans les domaines de télécommunication, de l’avionique,du biomédical mais aussi par leur rôle d’interface entre les systèmes électroniques presque totalement numérisés et le monde extérieur à nature analogique. L’apparition de nouvelles technologies des circuits telles que celle des ASICs, des systèmes mixtes, a conduit à l’intégration de la partie analogique cote à cote avec la partie numérique. En conséquence, cette intégration a conduit à une réduction dans la taille du circuit et à faible coût de revient. Cependant, ce genre de circuit devient difficile à tester à cause des points d’accès trop restreints. Cette situation a poussé leur coût de test à croître considérablement. Ces circuits analogiques ressemblent par leur fonction à ceux à faible taux d’intégration de type S.S.I. (Small scale intégration). Ceci pourra conduire à une similitude dans leur test au niveau fonctionnel et pour plusieurs variantes telles que le gain en tension, la phase, les résistances d’entrée et de sortie etc. Des techniques de test ont été appliquées à ces circuits analogiques à savoir le test fonctionnel,l’amélioration de la détection, la simulation des fautes. |
| En ligne : | http://dspace.univ-setif.dz:8888/jspui/bitstream/123456789/1373/3/N%c2%b0%20136%20Nacereddine%20BOUROUBA.rar |
Exemplaires (1)
| Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
|---|---|---|---|
| E-TH/0136 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
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