| Titre : | Microanalyse d'échantillons de silicium par rétrodiffusion d'ion He+ d’énergie 2 me et émission x induite par protons et des particules alpha |
| Auteurs : | Benguerba, Messaoud, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Alger : université des sciences et de la technologie Houari Boumadiene, 1980 |
| ISBN/ISSN/EAN : | TS4/0006 |
| Format : | 1 vol. (107 f.) / ill. |
| Note générale : | Bibliogr. Tableaux |
| Langues: | Français |
| Catégories : |
Exemplaires (2)
| Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
|---|---|---|---|
| TS4/0006 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
| TS4/0049 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
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