| Titre : | Analyse ellipsometrique des surfaces endommagées par implantation ionique d'argon (ar+) sur des semi-conducteurs : etude sur systeme de modele sio2/si |
| Auteurs : | Amor Seghir, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Sétif : Université Ferhat Abbas institut d’optique et de mécanique de précision, 1993 |
| ISBN/ISSN/EAN : | TS4/1876 |
| Format : | 1 vol. (38 f.) / ill. |
| Note générale : | Bibliogr. Tableaux |
| Langues: | Français |
| Catégories : |
Exemplaires (4)
| Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
|---|---|---|---|
| TS4/1876 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
| TS4/1877 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
| TS4/1878 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
| TS4/1879 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
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