| Titre : | Etude et caractérisation de transistors Mos fabriqués en technologie soi silicon on insulator |
| Auteurs : | Kamel Bennamane, Auteur ; A. Benfdila, Directeur de thèse |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Alger : Université Saad Dahleb Département d'electronique |
| ISBN/ISSN/EAN : | TS4/4844 |
| Format : | 1 vol. (91 f.) / ill. Tableaux |
| Note générale : | Bibliogr. |
| Langues: | Français |
| Catégories : |
Exemplaires (2)
| Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
|---|---|---|---|
| TS4/4844 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
| TS4/4845 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
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