| Titre : | Simulation de la technique de pompage de charge spectroscopique pour la modélisation des défauts à l'interface des transistors MOS submicronique |
| Auteurs : | Mounir kahouadji, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Sétif : Université Ferhat Abbas faculté de technologie département d’électronique, 2003 |
| ISBN/ISSN/EAN : | TS4/4585 |
| Format : | 1 vol. (115 f.) / ill. |
| Note générale : | Bibliogr. Annexes. Tableaux |
| Langues: | Français |
| Catégories : |
Exemplaires (3)
| Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
|---|---|---|---|
| TS4/4585 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
| TS4/4586 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
| TS4/4587 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
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