| Titre : | Synthèse des couches de tio2 et sno2 et caractérisation de leurs propriétés optiques |
| Auteurs : | Melia Hemissi ; H. Amardjia-Adnani, Directeur de thèse |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Sétif : Université Ferhat Abbas faculté des sciences département de physique, 2009 |
| ISBN/ISSN/EAN : | TS4/7884 |
| Format : | 1 vol. (143 f.) / ill. |
| Langues: | Français |
| Catégories : | |
| Note de contenu : |
Sommaire: -Introduction -Chapitre 1: 1.1 Dioxyde de titane TiO2 1.2 Dioxyde d’étain SnO2 1.3 Le procédé sol gel - 1.3.1 Définitions - 1.3.2 Chimie du procédé sol gel - 1.3.3 Mécanismes réactionnels 1.3.3.1 L’hydrolyse 1.3.3.2 La condensation 1.3. 3.3 La transition Sol-Gel - 1.3.4 Paramètres influençants la cinétique des réactions chimiques 1.3.4.1 La température 1.3.4.2 Le choix de l’alcoxyde et de sa concentration 1.3.4.3 Le solvant 1.3.4.4 Le pH du sol (choix du catalyseur) - 1.3.5 Dépôt de couches minces par voie Sol-Gel 1.3.5.1 Les différentes méthodes de dépôt de couches minces par voie sol Gel 1.3.5.2 Centrifugation ou spin coating 1.3.5.3 Trempage–tirage ou dip-coating 1.3.5.4 L’enduction laminaire 1.3.5.5 L’aérosol-gel 1.4 Choix des substrats - 1.4.1 Les lames de verre - 1.4.2 les lames de pyrex - 1.4.3 Les lames de silice pure - 1.4.4 Le silicium 1.5 Densification des couches minces - 1.5.1 Le séchage des couches minces - 1.5.2 Le recuit des couches minces -Chapitre 2: Élaboration des couches minces et techniques expérimentales d'analyse et de caractérisation 2.1 Préparation de la solution TiO2 - 2.1.1 La solution de TiO2 2.2 Méthode adoptée pour la préparation de la solution de SnO2 - 2.2.1 Préparation de la solution SnO2 2.3 Préparation des substrats - 2.3.1 Les lames de verre ordinaire - 2.3.2 les lames de pyrex 2.4 Etapes d’élaboration des couches - 2.4.1 Procédé trempage-tirage ou dip-coating - 2.4.2 Séchage - 2.4.3 Recuit des couches 2.5 Four tubulaire 2.6 Méthodes d’analyse des couches minces élaborées - 2.6.1 Diffraction de rayons - 2.6.2 L’Ellipsométrie spectroscopique 2.6.2.1Mesure d'épaisseur des couches - 2.6.3 La microscopie électronique à balayage Environnementale MEBE 2.6.3.1 Les électrons secondaires 2.6.3.2 Les électrons rétrodiffusés 2.6.3.3 Les rayons - 2.6.4 Profilomètrie - 2.6.5 Spectrophotomètre UV VISIBLE- NIR - 2.6.6 Mesure de la résistivité par la méthode des quatre pointes Chapitre 3:Propriétés optiques des semi-conducteurs 3.1 Introduction 3.2 Les nanocristaux des semi-conducteurs - 3. 2. 1 L'effet de taille 3.3 Propriétés optiques des nano particules - 3.3.1 Paramètres optiques d'une couche Semi Conductrice sur substrat transparent 3.3.1.1 Indice de réfraction n de la couche dans la zone de transparence 3.3.1.2 Epaisseur d de la couche 3.3.1.3 Coefficient d’absorption α 3.3.1.4 Largeur de la bande interdite du semiconducteur 3.4 Optique non linéaire - 3.4.1 Réponse optique d'un matériau - 3.4.2 Origine microscopique des phénomènes non linéaires - 3.4.3 Polarisation macroscopique induite par une onde optique - 3.4.4 Expression de la polarisation macroscopique dans un matériau vitreux 3.5 L'effet Kerr optique 3.6 Relation entre la susceptibilité d'ordre trois et l'indice de réfraction -Chapitre 4:Caractérisation structurale et morphologie des couches de TiO2 et SnO2 4.1 Etude structurale des couches de TiO2. - 4.1.1 Taille des grains - 4.1.2 Étude de la structure des couches par MEBE 4.2 Etat de surface et rugosité 4.3 Propriété électrique du TiO2 4.4 Evolution structurale des couches de SnO2 - 4.4.1 Morphologie des couches de SnO2 4.5 Calcul des tailles des grains SnO2 4.6 Etat de surface et rugosité 4.7 Microstructure et propriétés électriques de SnO2 4.8 Résistivité -Chapitre 5:Caractérisation optique des couches minces de TiO2 et SnO2 obtenues 5.1 Taux de transmission 5.2 Décalage de la transmission 4.3 Etude de l'absorption 5.4 Détermination du gap des nanocristaux - 5.4.1 Gap du dioxyde de titane - 5.4.2 Effet de taille pour le TiO2 5.5 Spectres de transmission des couches minces de SnO2 -Chapitre 6:Calcul des paramètres optiques 6.1 Influence de la température de recuit sur l’évolution de l'indice de réfraction des couches de TiO2 élaborées 6.2 L'épaisseur des couches de chaque échantillon 6.3 Constante diélectrique 6.4 Conductivité optique (σ) 6.5 Susceptibilité optique -Conclusion -Références |
Exemplaires (1)
| Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
|---|---|---|---|
| TS4/7884 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
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