Titre : | Effet des conditions de dépôt sur les propriétés électriques des couches SiNx et SiO2 |
Auteurs : | Mohamed Maoudj, Auteur ; Djoudi Bouhafs, Directeur de thèse |
Type de document : | texte imprimé |
Editeur : | Sétif : Université Ferhat Abbas faculté de technologie département d’électronique, 2021 |
ISBN/ISSN/EAN : | TS4/9061 |
Format : | 1 vol. (209 f.) / ill. / 25 cm |
Langues: | Français |
Catégories : | |
Résumé : |
Ce travail de thèse consiste à la mise en œuvre, l’optimisationet l’étude des paramètres électriques, optiques et structurelles d’une double couche de passivation formée de nitrure de silicium hydrogéné et d’oxyde de silicium (SiNx-H/SiO2). Cette étude s’est intéressée en premier lieu au nettoyage et au traitement de surface du silicium de type-p destiné à la fabrication des cellules solaires photovoltaïques. A cet effet, une solution alcaline à base d’hydroxyde de potassium (KOH) a été optimisée en vue de l’amincissement des plaquettes et le polissage de leur surface pour diminuer la rugosité. Ensuite, nous nous sommes intéressés à l’optimisation de dépôt de nano-couches d’oxyde de silicium thermique et chimique. En utilisant les techniques de caractérisation appropriées, une investigation sur la qualité de la passivation basé sur l’étude des interfaces SiO2-Si et SiNx/SiO2-Si a été menée sur des structures MOS et MNOS respectivement, en présentant une étude comparative entre le SiO2 thermique et chimique suivi d’un dépôt de SiNx sur des substrats de type p-Cz ainsi que sur des structures avec émetteurs n+p. |
Exemplaires (1)
Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
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TS4/9061 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
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