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La course a la miniaturisation des circuits intégrés provoque l'apparition d'un certain nombre de et s parasites, venant dégrader les caractéristiques électriques des dispositifs. Ce sont les fuites de grille croissant avec la reduction de l’é[...]
Exemplaires (1)
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E-TH/1312 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
Plusieurs travaux théoriques et expérimentaux ont montré l’existence d’une barrière de potentiel inhomogène à l’interface des contacts métal/semi-conducteur. Il y eu jusqu'à l’heure que deux modèles qui expliquent cette barrière, le modèle de [...]
Exemplaires (1)
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E-TH/0519 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
Plusieurs Travaux théoriques et expérimentaux ont montré l’existence d’une barrière de potentiel inhomogène à l’interface des contacts métal/semi-conducteur. Il y eu jusqu'à l’heure que deux modèles qui expliquent cette barrière, le modèle de [...]
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TS4/8063 | Thèse | Bibliothèque centrale | Disponible |
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