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Contribution au Développement de Méthodes Électriques pour la Caractérisation de la Dégradation NBTI
Mohamed Boubaaya, Auteur ; Djamila Bennaceur-Doumaz, Directeur de thèse | Sétif : Université Ferhat Abbas faculté de technologie département d’électronique | 2022La miniaturisation des composants microélectroniques a engendré une réduction accélérée de l’épaisseur du diélectrique de la grille des transistors.Avec cette réduction des dimensions,la fiabilité des transistors devient critique,d’un nœud tec[...]Exemplaires (1)
Cote Support Localisation Disponibilité TS4/9143 Thèse Bibliothèque centrale Disponible 
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Contribution au Développement de Méthodes Électriques pour la Caractérisation de la Dégradation NBTI
Mohamed Boubaaya, Auteur ; Djamila Bennaceur-Doumaz, Directeur de thèse | Sétif : Université Ferhat Abbas faculté de technologie département d’électronique | 2022La miniaturisation des composants microélectroniques a engendré une réduction accélérée de l’épaisseur du diélectrique de la grille des transistors.Avec cette réduction des dimensions,la fiabilité des transistors devient critique,d’un nœud tec[...]Exemplaires (1)
Cote Support Localisation Disponibilité E-TH/2026 Thèse Bibliothèque centrale Disponible
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