| Titre : | Examen clinique |
| Auteurs : | Owen Epstein ; David Perkin ; R. Krémer ; E.C. Laterre |
| Type de document : | texte imprimé |
| Mention d'édition : | 3e éd |
| Editeur : | Bruxelles : De Boeck, 2012 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-8041-6903-9 |
| Format : | 1vol. (X-438 p.) / ill., couv. ill. en coul. / 28 cm |
| Note générale : | Index |
| Langues originales: | |
| Index. décimale : | 616.047 (Symptômes et processus pathologiques généraux considérés comme problèmes en soi) |
| Catégories : | |
| Mots-clés: | Examen clinique |
| Résumé : |
Examen clinique L'examen clinique ou l'art d'un diagnostic correct Les progrès techniques en médecine sont étonnants et permettent des diagnostics que, jadis, seule la chirurgie ou l'autopsie pouvait préciser. De nombreuses confrontations ont pu être faites entre les diagnostics techniques, l'interrogatoire et l'examen clinique, donnant à ces derniers une plus grande fiabilité. Cet ouvrage donne la part belle à l'examen clinique, avant tout examen technique ou spécialisé. On s'aperçoit que le médecin peut aller très loin dans la démarche diagnostique, en écoutant le patient, en posant les questions adéquates, en palpant et en auscultant. Du cas clinique au diagnostic Cet ouvrage est clair, remarquablement illustré, et détaille les cas cliniques que les médecins de première ligne peuvent résoudre et traiter. Il décrit les cas de malades qui nécessitent des examens spécialisés et ciblés ou qui doivent être hospitalisés, transférés dans un service d'urgence ou confiés à un spécialiste. Ce livre est accessible a la fois aux étudiants en médecine et aux lecteurs plus expérimentés ; tout médecin devrait l'avoir à sa portée. |
| Côte titre : |
M4/11416-11419 |
Exemplaires (4)
| Cote | Support | Localisation | Disponibilité |
|---|---|---|---|
| M4/11416 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| M4/11417 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| M4/11418 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
| M4/11419 | Livre | Bibliothèque centrale | Disponible |
Accueil
